[发明专利]一种基于软硬件结合的抗干扰方法及系统有效
| 申请号: | 201210387590.9 | 申请日: | 2012-10-12 |
| 公开(公告)号: | CN103728897A | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
| 发明(设计)人: | 杨卉;刘玲;代转;朱奎;王林旺 | 申请(专利权)人: | 深圳市金正方科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042 |
| 代理公司: | 深圳市中联专利代理有限公司 44274 | 代理人: | 李俊 |
| 地址: | 518057 广东省深圳市南山区高新南七*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 软硬件 结合 抗干扰 方法 系统 | ||
技术领域
本发明涉及电子信息处理技术领域,尤其是涉及一种基于软硬件结合的抗干扰方法及系统。
背景技术
在电子信息处理过程中,由于各种原因,常会有一些与被处理电子信息无关的电压或电流信号存在,这样会影响电子信息处理的性能和质量。这些信号叫做干扰,它分为内部干扰和外部干扰。
内部干扰,是电子信息处理系统内部各部件间的互相干扰,这种干扰可通过电子信息处理装置的合理设计、零部件的合理布局,或采取隔离措施等加以消除或减弱。
外部干扰,是由电子信息处理系统外部的因素产生的,常见的干扰包括:
1、机械干扰
机械干扰最为严重,也很广泛。机械振动会使导线在磁场中运动,产生感应电动势。抑制这类干扰,用减振措施即可,如采用减振弹簧或减振橡胶等。
2、温度干扰
由于温度过高、波动且不均匀,在检测中温度常导致电子元件参数变化或产生热电势,从而对测量结果造成严重干扰。在工程上,一般采用热屏蔽方法抑制热干扰,如把敏感元件装入恒温箱中。在电子测量装置中,常采用温度补偿措施,以补偿温度变化对检测结果的影响。
3、电磁干扰
由于厂矿中发电机、电动机及气体放电器件等杂散电磁场的存在,电场或磁场的变化,会使电或磁的干扰进入电子测量装置中,引起干扰信号。
目前的电子行业领域中,为了降低电磁环境对电子线路的干扰,大多是在口线上加以滤波器、电容、电阻、电感、磁珠等元器件进行滤波,可阻止干扰信号进入仪器,使干扰信号衰减。
然而,上述方法中需要增设多种电子元器件,一方面无形中增加了成本,另一方面在空间上若不能合理分配元器件的位置,反而会增加电磁环境对电子线路的干扰;另外,在某些情况下该方法也是不可行的,例如在高速口线上加上某些元器件会导致口线的速度降低。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种基于软硬件结合的抗干扰方法及系统,其应用成本较低且能解决电子电路产品在电磁干扰环境下工作的可靠性问题。
为解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:
一种基于软硬件结合的抗干扰方法,所述方法包括以下步骤:
步骤S1:当微处理器通过检测弱连线输入口线电平状态是否稳定,以判定电磁环境是否稳定,若稳定,则进行步骤S2,若不稳定,则所述微处理器不执行该对外操作,且延时再次检测所述通信口线的电磁环境是否稳定;
步骤S2:所述微处理器执行该对外操作;
步骤S3:所述微处理器接收并检查该对外操作的返回信息是否正确,若是,则成功结束该对外操作;若否,满足重执条件时返回步骤S1,否则放弃该对外操作。
进一步,所述步骤S1中检测所述电磁环境是否稳定具体为:
微处理器通过检测所述弱连线输入口线的电平状态是否稳定来实现对电磁环境是否稳定的检测。
进一步,所述步骤S1具体包括:
步骤S101:微处理器接收到对外操作请求,或发起对外操作请求,所述对外操作为依时序变化关联或空间上关联的对外操作;
步骤S102:所述微处理器检测弱连线输入口线的电平状态是否稳定,若是,则进行步骤S2;若否,则进行步骤S103;
步骤S103:所述微处理器不执行该对外操作,且延时一时间片后再次检测所述弱连线输入口线的电平状态,直到检测到所述弱连线输入口线的电平状态稳定的情况下,进行步骤S2。
进一步,所述步骤S3具体包括:
步骤S301:所述微处理器接收该对外操作的返回信息;
步骤S302:所述微处理器检查收到所述对外操作的返回信息,若所述返回信息不正确或者所述微处理器收不到所述对外操作的返回信息,则放弃该对外操作,返回步骤S1;若所述返回信息正确,则成功结束该对外操作。
进一步,所述弱连线输入口线为所述微处理器内部或外部通过电阻上拉到电源或下拉到地,以对弱连线进行强高或强低输出控制。
进一步,所述对外操作为依时序变化关联的对外操作或是空间上关联的对外操作。
本发明还提供一种基于软硬件结合的抗干扰系统,所述系统包括:微处理器单元,所述微处理器单元通过输入口与弱连线连接;
所述微处理器单元包括:
对外操作请求产生或接收子单元,用于发起对外操作请求;
电磁环境检测子单元,用于通过检测所述输入口线的弱连线电平状态是否稳定,以检测外部电磁环境是否稳定;
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