[发明专利]高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法无效
申请号: | 201210385928.7 | 申请日: | 2012-10-12 |
公开(公告)号: | CN102863210A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 沈强;李雪萍;陈斐;张联盟 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | C04B35/457 | 分类号: | C04B35/457;C04B35/622 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 王守仁 |
地址: | 430071 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 致密 导电 氧化 陶瓷 制备 方法 | ||
1.一种高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于该方法以两种纳米粉体为原料,结合电场辅助条件在低温下制得所述氧化锡锑陶瓷,后期的低温均化处理应使其电阻率降低,且不影响致密度,该方法采用包括以下步骤的方法:
(1)不同Sb掺杂含量的氧化锡锑纳米粉体的制备:
按Sb掺杂含量为1~20at.%的比例称取Sb掺杂含量为20at.%的氧化锡锑粉体和纯SnO2粉体,将混合纳米粉体、玛瑙球和无水乙醇按1:2:1的质量比加入到球磨罐中,经球磨机球磨后,烘干、研磨,得到所需氧化锡锑纳米粉体;
(2)氧化锡锑纳米粉体的电场辅助低温快速致密化:
将步骤(1)中所得氧化锡锑纳米粉体装入模具中,转移到电场辅助烧结系统中,在800~1200℃的温度下进行烧结,得到高致密的氧化锡锑陶瓷;
(3)氧化锡锑陶瓷的低温均化处理:
将步骤(2)中所得的氧化锡锑陶瓷置于加热炉中进行均化处理,均化处理温度为500~1000℃,时间为10~100小时;
经过上述步骤,得到所述的高致密、高导电的氧化锡锑陶瓷。
2.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:步骤(1)中所述Sb掺杂含量为20at.%的氧化锡锑粉体和SnO2粉体的纯度为>99.9%,粒径为10~50nm。
3.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:步骤(1)中,按Sb掺杂含量为1~20at.%的比例得到氧化锡锑纳米粉体。
4.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:采用电场辅助烧结技术在烧结压力为20~100MPa时,以50~300℃/分钟升温至800~1200℃保温1~5分钟后烧结得到的氧化锡锑陶瓷致密度均可达90~99% 。
5.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:所述采用的模具材质为高强石墨或碳化钨。
6.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:所述球磨机为行星球磨机,球磨12小时后烘干浆料,研磨得到所需氧化锡锑纳米粉体,该粉体粒径为20~30nm。
7.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:得到致密度为90~98%,电阻率为1~10×10-3Ω·cm的氧化锡锑陶瓷。
8.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:所述模具为Φ20的石墨模具。
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