[发明专利]高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法无效

专利信息
申请号: 201210385928.7 申请日: 2012-10-12
公开(公告)号: CN102863210A 公开(公告)日: 2013-01-09
发明(设计)人: 沈强;李雪萍;陈斐;张联盟 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: C04B35/457 分类号: C04B35/457;C04B35/622
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 王守仁
地址: 430071 湖*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 致密 导电 氧化 陶瓷 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于该方法以两种纳米粉体为原料,结合电场辅助条件在低温下制得所述氧化锡锑陶瓷,后期的低温均化处理应使其电阻率降低,且不影响致密度,该方法采用包括以下步骤的方法:

(1)不同Sb掺杂含量的氧化锡锑纳米粉体的制备: 

按Sb掺杂含量为1~20at.%的比例称取Sb掺杂含量为20at.%的氧化锡锑粉体和纯SnO2粉体,将混合纳米粉体、玛瑙球和无水乙醇按1:2:1的质量比加入到球磨罐中,经球磨机球磨后,烘干、研磨,得到所需氧化锡锑纳米粉体;

(2)氧化锡锑纳米粉体的电场辅助低温快速致密化:

将步骤(1)中所得氧化锡锑纳米粉体装入模具中,转移到电场辅助烧结系统中,在800~1200℃的温度下进行烧结,得到高致密的氧化锡锑陶瓷;

(3)氧化锡锑陶瓷的低温均化处理:

将步骤(2)中所得的氧化锡锑陶瓷置于加热炉中进行均化处理,均化处理温度为500~1000℃,时间为10~100小时;

经过上述步骤,得到所述的高致密、高导电的氧化锡锑陶瓷。

2.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:步骤(1)中所述Sb掺杂含量为20at.%的氧化锡锑粉体和SnO2粉体的纯度为>99.9%,粒径为10~50nm。

3.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:步骤(1)中,按Sb掺杂含量为1~20at.%的比例得到氧化锡锑纳米粉体。

4.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:采用电场辅助烧结技术在烧结压力为20~100MPa时,以50~300℃/分钟升温至800~1200℃保温1~5分钟后烧结得到的氧化锡锑陶瓷致密度均可达90~99% 。

5.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:所述采用的模具材质为高强石墨或碳化钨。

6.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:所述球磨机为行星球磨机,球磨12小时后烘干浆料,研磨得到所需氧化锡锑纳米粉体,该粉体粒径为20~30nm。

7.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:得到致密度为90~98%,电阻率为1~10×10-3Ω·cm的氧化锡锑陶瓷。

8.根据权利要求1所述的高致密、高导电氧化锡锑陶瓷的制备方法,其特征在于:所述模具为Φ20的石墨模具。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉理工大学,未经武汉理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210385928.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top