[发明专利]电路测试系统及电路测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试系统以及其测试方法，且特别涉及一种电路测试系统及电路测试方法。

背景技术

技术的进展已使高速电子电路成为可能。由于良好研发的电子装置(诸如，微处理器以及存储器)，有可能使电子电路在高速环境中操作且仍保持良好的性能。然而，为了在高速下测试电子电路的输入以及输出，需要高速测试器。为了测试电子电路，高速测试器将产生具有高于6千兆位/秒(Gbps)的数据速率的数据模式(data pattern)。由于高速测试器是昂贵的，因此在测试电子电路时应避免对高速测试器的使用。

此外，常规测试方法简单地测试电子电路的芯片外驱动器以及接收器，且诸如时钟接收器、先进先出(first-in-first-out，简称FIFO)缓冲器、串行/并行转换器、时钟树以及封装的其它电元件并未被测试。为了降低成本，用于在高速下测试电子电路的经济方法是必要的。

发明内容

本发明提供一种电路测试系统及电路测试方法，以实现高速测试功能。

本发明提供一种电路测试系统，其包括电路测试设备以及待测试电路。电路测试设备提供第一时钟信号。待测试电路耦接到电路测试设备。待测试电路包括多个输入/输出垫以及至少一个第一时钟垫。输入/输出垫中的至少两个第一输入/输出垫相互连接以在第一测试模式期间形成第一测试回路。第一时钟垫接收第一时钟信号。待测试电路使第一时钟信号的频率倍增以产生第二时钟信号，且待测试电路的第一测试回路在第一测试模式期间基于第二时钟信号而测试。

在本发明的实施例中，待测试电路还包括至少一个第二时钟垫。第二时钟垫连接到输入/输出垫中的至少一个第二输入/输出垫以在第二测试模式期间形成第二测试回路。待测试电路的第一测试回路以及第二测试回路在第二测试模式期间基于第二时钟信号而测试。

在本发明的实施例中，待测试电路还包括多个输入/输出接口单元。输入/输出接口单元中的每一个耦接到输入/输出垫中的相应输入/输出垫或第二时钟垫，以用于将数据传输到相应输入/输出垫以及从相应输入/输出垫或第二时钟垫接收数据。

在本发明的实施例中，耦接到输入/输出垫中的相应输入/输出垫的输入/输出接口单元中的每一个包括接收单元以及传输单元。接收单元耦接到相应输入/输出垫且从相应输入/输出垫接收数据。传输单元耦接到相应输入/输出垫且将数据传输到相应输入/输出垫。两个第一输入/输出垫中的一个的接收单元位于第一测试回路中，且两个第一输入/输出垫中的另一个的传输单元位于第一测试回路中。

在本发明的实施例中，耦接到第二时钟垫的输入/输出接口单元包括接收单元。接收单元耦接到第二时钟垫且从第二时钟垫接收数据。第二时钟垫的接收单元位于第二测试回路中，且第二输入/输出垫的传输单元位于第二测试回路中。

在本发明的实施例中，待测试电路还包括数据寄存器单元。数据寄存器单元耦接到输入/输出接口单元。数据寄存器单元基于第一写时钟从输入/输出接口单元接收数据，且基于读时钟将数据输出到输入/输出接口单元。

在本发明的实施例中，待测试电路还包括时钟产生单元。时钟产生单元耦接于数据寄存器单元与电路测试设备之间。时钟产生单元使第一时钟信号的频率倍增以产生第二时钟信号，且提供第二时钟信号以充当第一写时钟以及读时钟。

在本发明的实施例中，时钟产生单元包括时钟倍增单元、读时钟产生单元以及写时钟产生单元。时钟倍增单元耦接到电路测试设备且使第一时钟信号的频率倍增以产生第二时钟信号。读时钟产生单元耦接到数据寄存器单元且基于第二时钟信号提供读时钟。写时钟产生单元耦接到数据寄存器单元且基于第二时钟信号或第二写时钟提供第一写时钟。

在本发明的实施例中，时钟产生单元还包括选择单元。选择单元耦接于时钟倍增单元与写时钟产生单元之间。选择单元选择第二时钟信号以及第二写时钟中的一个，且将所选择者提供到写时钟产生单元。第二写时钟从第二测试回路传输到选择单元。

在本发明的实施例中，时钟产生单元还包括延迟单元。延迟单元耦接于写时钟产生单元与时钟倍增单元之间且将第二时钟信号或第二写时钟延迟历时可调整时段。

本发明提供一种电路测试方法。待测试电路包括第一测试回路以及第二测试回路。电路测试方法包括以下步骤。从电路测试设备接收第一时钟信号。使第一时钟信号的频率倍增以产生第二时钟信号。在第一测试模式期间基于第二时钟信号测试待测试电路的第一测试回路。