[发明专利]液晶显示装置及其制造方法有效
申请号: | 201210377390.5 | 申请日: | 2012-09-27 |
公开(公告)号: | CN103034002A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 栗田诚 | 申请(专利权)人: | 株式会社日本显示器东 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;G02F1/1368;G02F1/1333 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 杨宏军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 液晶 显示装置 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及显示装置,尤其涉及提供能够防止影像信号线断线的结构的液晶显示装置。
背景技术
在液晶显示装置上设置有:像素电极及薄膜晶体管(TFT)等呈矩阵状地形成的TFT基板;以及与TFT基板相对、且在与TFT基板的像素电极相对应的位置形成有滤色器等的对置基板,在TFT基板和对置基板之间夹持有液晶。而且通过按像素控制基于液晶分子的透光率而形成图像。
由于液晶显示装置是平板型且轻量,因此在从TV等大型显示装置到手机或DSC(Digital Still Camera,数字照相机)等各种领域广泛地应用。此外,液晶显示装置存在根据观察画面的角度的不同,图像也不同这一视场角的问题,但关于该视场角,IPS(In Plane Switching,平面转换)方式的液晶显示装置具有优异的特性。
在液晶显示装置中,影像信号线在第一方向延伸、在第二方向排列,扫描线在第二方向延伸、在第一方向排列。为了抑制线宽并减小电阻,影像信号线使用Al合金。Al合金在光刻工序中的蚀刻或显影工序中易产生缺陷。
IPS方式的液晶显示装置也有很多,其中有以下方式:在同一层(例如栅极绝缘膜)上形成影像信号线或漏电极和由ITO(Indium Tin Oxide,氧化铟锡)形成的像素电极,在其之上形成层间绝缘膜,在层间绝缘膜之上形成梳齿状的对置电极。在该情况下,存在影像信号线或漏电极由于ITO的显影液而溶解,产生缺陷或断线的问题。
在“专利文献1”中记载有为了防止上述问题而先形成基于ITO的像素电极,之后再形成TFT的漏电极或影像信号线的结构。此外,在“专利文献2”中记载有为了相同的目的,通过使构成像素电极的ITO成为两层结构而使漏电极或影像信号线不被ITO的显影液侵蚀的结构。
专利文献1:日本特愿2010-217062号
专利文献1:日本特开2011-145530号公报
发明内容
在液晶显示装置中,对应各像素地形成有TFT。图13是表示影像信号线107沿纵向延伸、沿横向排列,扫描线105沿横向延伸、沿纵向排列,在由影像信号线107和扫描线105所包围的区域形成有像素的结构的俯视图。在图13中,省略了像素电极。向各像素的影像信号从影像信号线107经由第一通孔115,通过三个TFT,再经由第二通孔116提供给未图示的像素电极。
在图13中,扫描线105兼作TFT的栅电极105。半导体层103从与影像信号线107连接的第一通孔115弯曲,三次通过扫描线105(栅电极)的下方,由此形成三个顶栅式(top gate)的TFT。
影像信号线107相对于TFT成为漏电极107,与影像信号线107在同层形成的金属层成为源电极107。影像信号线、漏电极及源电极是由同一材料同时形成的,因此标注同一符号107。关于影像信号线107,为了减小其电阻而由Al或Al合金形成。这里使用AlSi,Si的含量为1%左右。Al易在半导体层103扩散,且易产生小丘(hillock)。
为了防止Al在半导体层103扩散,在AlSi层的下层形成基于MoW等的基层1071,在AlSi层1072的上层形成基于MoW等的覆盖层1073。在具有如上结构的影像信号线107中,在光刻中的蚀刻程序中,有可能产生如图13所示的影像信号线的断线。
图14是图13的影像信号线107的断线部分的剖视图。在图14中,在TFT基板100之上形成有第一基底膜101、第二基底膜102、栅极绝缘膜104、及层间绝缘膜106,在层间绝缘膜106之上形成有影像信号线107,但在影像信号线107上发生断线70。在影像信号线107之上形成有无机钝化膜108,在无机钝化膜108之上形成有有机钝化膜109,在有机钝化膜109之上形成有上部绝缘膜111,在上部绝缘膜111之上形成有取向膜113。在图14中,无机钝化膜108以不规则的形状堆积在影像信号线107断线的部分。
如果不能修复如上所述的影像信号线107的断线,则该液晶显示装置为不良品。本发明的课题是防止图13或图14所示的三层结构的影像信号线107中的断线。
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