[发明专利]烧机测试装置无效

专利信息
申请号: 201210376315.7 申请日: 2012-10-08
公开(公告)号: CN103713207A 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 范姜正;王鸿基;郭修玮;林明贤 申请(专利权)人: 致茂电子(苏州)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;常大军
地址: 215011 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测试 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种烧机测试装置,特别涉及一种利用隔板分隔出加热空间与烧机空间的烧机测试装置。

背景技术

一般来说,当电子产品制造完成后,通常会进行各种品质的测试,其中烧机测试为电子产品的品质测试中非常重要的一环。

然而,在现有的烧机测试技术中,通常是将待测的电子产品放进烧机测试装置中,以对电子产品加热而进行烧机测试。其中,由于现有的烧机测试装置通常是以加热装置对测试环境直接加热,因此会造成越接近加热装置的电子产品越容易受热,而远离加热装置的电子产品则不容易受热。此外,由于烧机测试的时间非常长,因此均匀的加热环境极为重要。

承上所述,当电子产品为面板时,现有的技术是将两个面板互相倾斜的抵靠立起,以增加面板的受热面积,然而此种方式非常的占空间,会减少烧机测试装置所能容纳的面板数量,进而使面板的测试效率降低,此外,更重要的是,这种放置方式会影响到加热气流的流通,使得面板受热不均。

缘此,本发明开发出一种新的烧机测试装置,使其可以循环式的热风对面板进行烧机测试,藉以增加面板受热的均匀度。

发明内容

本发明所欲解决的技术问题与目的:

综观以上所述,在现有技术中,由于现有的烧机测试装置是直接对电子元件直接加热,容易产生受热不均的现象;此外,当测试的电子元件为面板时,通常是将面板两两互相抵靠而立起来,以增加面板的受热面积,但此种方式会降低烧机测试装置所能容纳的面板数量,降低面板的测试效率。

缘此,本发明的主要目的在于提供一种烧机测试装置,其是利用隔板将烧机测试装置本体内部的空间分隔形成一加热空间与一烧机空间,然后在加热空间内设有加热模块与风扇模块,并在隔板顶端与底端分别开设有回风口与出风口,以使加热后的空气与加热空间与烧机空间循环地移动,使烧机空间内的待测面板能均匀受热。

本发明解决问题的技术手段:

本发明为解决现有技术的问题所采用的技术手段是提供一种烧机测试装置,用以对多个待测面板进行烧机测试,烧机测试装置包含一烧机炉本体、多个烧机测试架、一风扇模块以及一加热模块。烧机炉本体包含一外壳以及一隔板,隔板沿一第一方向设置于外壳内,以使外壳内部形成一加热空间与一烧机空间,且隔板具有一回风口与一出风口,藉以使加热空间与烧机空间连通;烧机测试架容置于烧机空间内,并用以供待测面板沿一与第一方向垂直的第二方向放置;风扇模块设置于加热空间内,用以使加热空间内的空气向下流动而经由出风口输送至烧机空间;加热模块,设置于加热空间内,用以加热流经加热模块的空气;其中,利用风扇模块的推动与加热模块的加热,使烧机炉本体内的空气经由出风口与回风口于加热空间与烧机空间内循环地流通,进而使待测面板进行烧机测试。

在本发明的一较佳实施例中,加热模块设置于风扇模块上方。

在本发明的一较佳实施例中,烧机炉本体还包含一回风隔板,其设置于加热空间,风扇模块设置于回风隔板上。

在本发明的一较佳实施例中,烧机炉本体还包含一加热隔板,其设置于加热空间,加热模块设置于加热隔板上。在本发明的一较佳实施例中,第一方向垂直于地面的垂直方向,藉以使隔板垂直地面设置于外壳内。较佳者,出风口位于隔板的底端,回风口位于隔板的顶端;此外,第二方向是平行于地面的水平方向,藉以使待测面板水平地放置于烧机测试架。

在本发明的一较佳实施例中,每一烧机测试架包含多个承载平台,每一烧机测试架可相对于烧机炉本体沿一第一移动方向移动,每一承载平台可相对于烧机测试架沿一第二移动方向移动,而第二移动方向是垂直于第一移动方向。

本发明对照现有技术的功效:

从以上所述可知,相较于现有技术所述的烧机测试装置,由于在本发明所提供的烧机测试装置中,是以隔板来分隔出烧机空间与加热空间,且在隔板的顶端与底端分别开设有回风口与出风口,并利用设置于加热空间内的加热模块与风扇模块来对空气加热并由出风口推送至烧机空间,使热空气可以对烧机空间内的待测面板进行加热,而热空气还可经由回风口回流至加热空间,以形成循环式的加热;因此,本发明确实可以有效的对待测面板进行循环式的加热。

此外,由于待测面板是平放在烧机测试架上,因此可以有效的增加待测面板放置于烧机空间的数量,藉以增加待测面板的测试效率。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1显示本发明的烧机测试装置的立体示意图;

图2显示本发明的烧机测试装置未显示外壳的立体示意图;

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