[发明专利]一种去除SixNy残留物的处理方法无效
申请号: | 201210369039.1 | 申请日: | 2012-09-27 |
公开(公告)号: | CN103021841A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 王虎 | 申请(专利权)人: | 奥特斯维能源(太仓)有限公司 |
主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 215434 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 去除 sixny 残留物 处理 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种太阳能电池硅片处理方法,具体地说是一种去除硅片上SixNy残留物的处理方法。
背景技术
随着市场品质要求日益增高,对电池片外观的要求越来越严格。其中在镀膜过程中会形成很多的不良半成品片,例如发红片、彩虹片、色差片、脏片等,这些异常片会造成产线的良率下降以及客户抱怨的增多,所以处理这些不良半成品片在所难免。
高浓度的氢氟酸对于SixNy膜具有很好的去除作用,但是受清洗时间、溶液浓度、清洁度影响,硅片表面残留物可能不能完全去除,此时就不能重新制绒以免造成污染。
发明内容
发明目的:是针对现有技术存在的不足,提供一种能够彻底去除硅片上SixNy残留物的处理方法。
技术方案:为实现上述目的,本发明提供了一种去除SixNy残留物的处理方法,该方法的具体步骤如下:
(1)将质量百分比为1%-1.2%的氢氧化钠NaOH、体积比3.0%-3.6% H2O2溶液混合,加热升温到63℃-67℃;
(2)将硅片放入上述溶液中浸泡3 min-4min;
(3)将浸泡后的硅片放入在水中浸泡40s-60s;
(4)将水中浸泡的硅片慢慢提拉,硅片慢提拉速度用时间评估,时间为20-40s,然后烘干即可。
本发明利用NaOH与H2O2混合液能将不能完全去除SixNy膜的异常片恢复到制绒前状态,保证此硅片的品质与正常硅片基本一致。
本发明中所述H2O2的目的是去除有机物,NaOH与Si反应起粗抛作用,去除表面损伤以及表面残留物,并且增强H2O2氧化能力;
Si+2NaOH+H2O==Na2SiO3+2H2
而氢气不断从溶液中溢出,使反应不断进行,生成溶于水硅酸钠,经过此反应不会对硅片性能有任何影响。
有益效果:本发明所述的去除SixNy残留物的处理方法,具有以下优点:
本发明能够处理氢氟酸溶液不能完全去除SixNy膜的异常片,对其进行处理后可重新制绒,工艺简单,无需增加额外的设备,对硅片性能无影响,提高生产线的良率。
附图说明
图1为本发明的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例,进一步阐明本发明,本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施,应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。
如图1所示的一种去除SixNy残留物的处理方法,具体步骤如下:
(1)将质量百分比为1.1%的氢氧化钠、体积比为3.3%的H2O2水混合液,加热温度到65℃;
(2)将硅片放入上述溶液中浸泡3 min;
(3)将浸泡后的硅片放入在水中浸泡3.5min;
(4)将水中浸泡的硅片慢慢提拉,50S将硅片从水中完全提拉离水面,然后烘干即可。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥特斯维能源(太仓)有限公司,未经奥特斯维能源(太仓)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210369039.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造