[发明专利]磁体电学中心的检测装置及方法

权利要求书

1.一种磁体电学中心的检测装置，其特征在于，包括：

探头阵列，包括预定数量且呈线性排布的测量探头，所述测量探头用于反馈模拟电压信号以检测其所处位置的磁场强度；

测量主轴，所述探头阵列设置于所述测量主轴上，所述测量主轴的一端标有相对于中心参考点位置的测量刻度，所述中心参考点为所述探头阵列所在位置的所述测量主轴上任意一点；

射频收发器，与所述探头阵列连接，用于发射射频脉冲信号和接收所述模拟电压信号；

控制处理器，与所述射频收发器连接，包括：控制单元，用于发送测场序列以检测所述测量探头所处位置的磁场强度，所述测场序列用于控制所述射频收发器对所述测量探头发射射频脉冲信号和接收所述测量探头反馈的模拟电压信号；数据处理单元，用于分析所述磁场强度，判断所述中心参考点是否位于磁体电学中心。

2.根据权利要求1所述的磁体电学中心的检测装置，其特征在于，所述射频收发器包括：

射频脉冲发生器，用于产生所述射频脉冲信号的数字信号，所述射频脉冲发生器的输入端连接所述控制单元；

数模转换器，用于将所述数字信号转换成所述射频脉冲信号的模拟信号，所述数模转换器的输入端与所述射频脉冲发生器的输出端连接；

射频功率放大器，用于将所述射频脉冲信号的模拟信号放大为所述射频脉冲信号并发送，所述射频功率放大器的输入端与所述数模转换器的输出端连接，所述射频功率放大器的输出端与所述探头阵列连接；

模数转换器，用于将所述测量探头反馈的模拟电压信号转换为数字电压信号，所述模数转换器的输出端与所述控制单元连接。

3.根据权利要求2所述的磁体电学中心的检测装置，其特征在于，还包括前置放大器，用于将所述测量探头反馈的模拟电压信号放大并发送，所述前置放大器的输入端与所述探头阵列连接，所述前置放大器的输出端与所述模数转换器的输入端连接。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的磁体电学中心的检测装置，其特征在于，所述测量探头包括小型线圈以及高氢原子密度的样品。

5.根据权利要求4所述的磁体电学中心的检测装置，其特征在于，所述小型线圈的主轴垂直于所述磁体产生的主磁场方向。

6.根据权利要求5所述的磁体电学中心的检测装置，其特征在于，所述高氢原子密度的样品放置于所述小型线圈内。

7.根据权利要求1所述的磁体电学中心的检测装置，其特征在于，还包括用于稳固所述测量主轴至所述磁体的主轴中心线上的测量支架。

8.根据权利要求7所述的磁体电学中心的检测装置，其特征在于，所述测量支架包括两个横梁支架，磁体前后各一个。

9.根据权利要求1所述的磁体电学中心的检测装置，其特征在于，还包括数据线及线缆，所述射频收发器通过所述数据线与所述控制处理器连接，所述射频收发器通过所述线缆与所述探头阵列连接。

10.根据权利要求1所述的磁体电学中心的检测装置，其特征在于，所述测场序列包括测量探头选择信号和射频脉冲发射/接收切换信号。

11.根据权利要求1所述的磁体电学中心的检测装置，其特征在于，所述预定数量的取值为不小于13。

12.一种磁体电学中心的检测方法，所述磁体的一端为参考端面，其特征在于，包括以下步骤：

（a）将权利要求1所述的磁体电学中心的检测装置的测量主轴通过所述测量支架固定在所述磁体的主轴中心线上，所述中心参考点偏离所述磁体理想电学中心预定距离，所述测量主轴标有测量刻度的一端位于所述参考端面；

（b）通过所述控制处理器的控制单元发送测场序列，以检测所述测量探头所处位置的磁场强度；

（c）通过对所述磁场强度的分析，得到判断项；

（d）通过判断所述判断项是否在参考数值范围内，确定所述中心参考点是否位于磁体电学中心；

（e）若所述判断项不在所述参考数值范围内，则所述中心参考点未位于磁体电学中心，沿着磁体主轴中心线移动所述测量主轴，重复步骤（b）~步骤（d）；

（f）若所述中心参考点位于磁体电学中心，测量结束。

13.根据权利要求12所述的磁体电学中心的检测方法，其特征在于，所述预定距离的取值为3mm。