[发明专利]使用了荧光粒子的检测对象物质的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及使用了荧光粒子的检测对象物质的检测方法。

背景技术

一直以来，作为对蛋白质、酶、无机化合物等进行定量的高灵敏度且容易的测定方法，广泛使用荧光检测法。该荧光检测法是对被认为含有能被特定波长的光激发而发出荧光的检测对象物质（待测物质）的试样照射上述特定波长的激发光、并通过检测此时的荧光来确认待测物质的存在的方法。另外，在待测物质不是荧光体时，还广泛采取下述方法：使利用荧光色素进行标记并与待测物质特异性结合的物质与试样接触，之后与上述同样地检测荧光，由此确认该结合、即待测物质的存在。

在这种荧光检测法中，为了提高检测的灵敏度，已知有利用由等离子体共振产生的电场增强的效应的方法。该方法中，为了产生等离子体共振，准备在透明支撑体上的规定区域上设有金属层的传感芯片，对支撑体与金属膜的界面从与支撑体的金属层形成面相反面的一侧以全反射角以上的规定角度入射激发光。通过该激发光的照射，在金属层上产生表面等离子体。通过该表面等离子体的产生所带来的电场增强作用使荧光增强，从而信噪比（信号/噪音比，S/N比）提高。利用表面等离子体激发的荧光检测法（以下记为“SPF法”）与利用落射激发的荧光检测法（以下记为“落射荧光法”）相比，信号增强度能获得约10倍，可以以高灵敏度进行测定。

例如在专利文献1所记载的求得待测物质的量的光信号检测方法中，准备具有传感器部的传感芯片，并使试样与传感芯片的传感器部接触，其中所述传感器部具备设于电介质板一个面的规定区域上的金属层。通过该接触，被赋予了与试样所含待测物质的量相对应量的光响应性标记物质的结合物质结合在传感器部上。接着，对规定区域照射激发光，检测金属层上产生的电场增强场内所产生的光响应性标记物质发出的光，从而求得待测物质的量。另外，该方法中，作为光响应性标记物质，还可以使用含有多个光响应物质而成的物质，以使得利用透过由光响应物质产生的光的光透过材料来防止在光响应物质接近金属层时所产生的金属消光。

另外，专利文献2所记载的分析方法中，通过利用了针对待测物质的多种抗体的免疫分析，可以拓宽能够定量的待测物质的浓度范围。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2010-190880号公报

专利文献2：日本特开平10-90268号公报

发明内容

发明要解决的课题

在现有的利用了SPF法的免疫诊断系统中，为了减轻制品所含的试剂量等的不均，采用的是根据用与测定对象物发生反应的试验区的信号值除于与试剂量成比例的对照区的信号值获得的校正系数来校正测定结果的不均的手法。因此存在下述问题：如果由温度等的变化所导致的信号变化是在试验区的信号值和对照区的信号值独立地发生变化时，即便使用该校正系数也无法正确地进行校正。一般来说是通过改变固定在基板上的抗体的量或者固定在标记上的抗体的量来调整由温度等的变化所导致的信号变化率。具体地说，通过减少固定在基板上的抗体量进行调整，可以增大温度依赖性。但是，也有即便改变固定在基板上的抗体量或固定在标记上的抗体量也无法调整由温度等的变化所导致的信号变化率的情况。本发明要解决的课题就在于要消除上述现有技术的问题。即，本发明要解决的课题在于提供在利用了调整由温度等的变化所导致的信号变化率的校正系统的荧光分析中、对照区的信号值与试验区的信号值的温度依赖性差异小的待测物质的检测方法。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题，本发明人等进行了深入研究，结果发现：通过使用下述荧光粒子进行荧光分析，可以减小对照区的信号值与试验区的信号值的温度依赖性差异，所述荧光粒子结合有能够与待测物质结合的第1结合物质；和能够与对第1结合物质具有结合性的第2结合物质结合但不与待测物质结合的第3结合物质。本发明基于上述发现而完成。

即，根据本发明，提供一种待测物质的测定方法，其包含下述工序：

（1）使待测物质和荧光粒子与存在于基板上的试验区及对照区接触、并使荧光粒子与待测物质发生反应的工序；

（2）对试验区及对照区的荧光粒子的荧光进行测定的工序；

（3）使用对照区的荧光信号值对试验区的荧光信号值进行校正的工序，

荧光粒子为结合有下述（i）和（ii）的结合物质标记荧光粒子：

（i）能够与待测物质结合的1种以上的第1结合物质；

（ii）能够与第2结合物质结合但不与待测物质结合的第3结合物质，

在对照区上固定有相对于第1结合物质可结合的第2结合物质。