[发明专利]光轴平行性标定系统及标定方法有效

专利信息
申请号: 201210358761.5 申请日: 2012-09-25
公开(公告)号: CN102878952A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 田留德;赵建科;周艳;潘亮;龙江波;曹昆 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 姚敏杰
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 光轴 平行 标定 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种光轴平行性标定系统,其特征在于:所述光轴平行性标定系统包括自准直经纬仪、数据处理计算机以及用于对自准直经纬仪进行自准的平面反射镜;待测光学系统设置在自准直经纬仪的出射光路上并与数据处理计算机电性相连。

2.根据权利要求1所述的光轴平行性标定系统,其特征在于:待测光学系统是多光轴系统。

3.根据权利要求2所述的光轴平行性标定系统,其特征在于:待测光学系统是具有多个传感器的多光轴系统。

4.一种基于权利要求1-3任一权利要求所述的光轴平行性标定系统的标定方法,其特征在于:所述标定方法包括以下步骤:

1)将自准直经纬仪放置在多光轴系统的第一传感器前方,打开光电自准直经纬仪的激光器,并调整光电自准直经纬仪使其发出的十字丝成像在第一传感器的靶面中心,通过数据处理计算机记录此时自准直经纬仪的读数(A1,E1);

2)将自准直经纬仪方位转动90°,调整平面反射镜使平面反射镜对自准直经纬仪自准;

3)移动自准直经纬仪到多光轴系统的第二传感器前方,并用自准直经纬仪对平面反射镜进行自准;

4)使自准直经纬仪方位转动90°,并将自准直经纬仪方位角度置成0°,调整自准直经纬仪使自准直经纬仪的激光器所发出的十字丝成像在第二传感器的靶面中心,记录此时自准直经纬仪的读数(A2,E2);

5)根据步骤1)以及步骤4)所得到的自准直经纬仪的读数获取多光轴第一传感器和第二传感器之间的光轴平行度。

5.根据权利要求4所述的标定方法,其特征在于:所述步骤5)的具体实现方式是:

5.1)根据步骤1)以及步骤4)所得到的自准直经纬仪的读数计算第一传感器和第二传感器之间的光轴平行差;所述第一传感器和第二传感器之间的光轴平行差的计算方式是:

ΔA=A2

ΔE=E1-E2

5.2)根据第一传感器和第二传感器之间的光轴平行差判断第一传感器的光轴和第二传感器的光轴间是否属于平行;若平行差为零,则第一传感器的光轴和第二传感器的光轴间处于平行状态;若平行差为非零,则第一传感器的光轴和第二传感器的光轴间的平行度为平行差。

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