[发明专利]触控设备坐标校准方法及装置有效
申请号: | 201210353191.0 | 申请日: | 2012-09-19 |
公开(公告)号: | CN102880357A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 黄安麒;黄蜚铨 | 申请(专利权)人: | 广州视睿电子科技有限公司 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 王茹;胡杰 |
地址: | 510663 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 设备 坐标 校准 方法 装置 | ||
1.一种触控设备坐标校准方法,其特征在于,包括以下步骤:
在校准模式下,当检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作时,获取所述待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标;所述标准已校准触控设备与待校准触控设备重叠,并且边缘严格对齐;
判断所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标是否一致;
若否,则根据所述待校准触控设备的各响应坐标、所述标准已校准标准触控设备的各响应坐标计算出校准参数,并根据该校准参数对所述待校准触控设备进行坐标校准;
若是,则校准结束。
2.根据权利要求1所述的触控设备坐标校准方法,其特征在于,在所述检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作之后、获取响应坐标之前,还包括步骤:
判断在所述两次以上的触摸操作中,各校准触摸点所对应的X坐标与Y坐标是否均不相同;
若否,则继续进行检测;
若是,则进入获取响应坐标的步骤。
3.根据权利要求1或2所述的触控设备坐标校准方法,其特征在于,所述获取待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标的过程具体包括:使用PC控制主机,通过通讯获取所述待校准触控设备的各响应坐标、标准已校准触控设备的各响应坐标。
4.根据权利要求1或2所述的触控设备坐标校准方法,其特征在于,所述获取待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标的过程具体包括:所述待校准触控设备记录自身各响应坐标,并通过通讯获取所述标准已校准触控设备的各响应坐标。
5.根据权利要求1或2所述的触控设备坐标校准方法,其特征在于,所述获取待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标的过程具体包括:所述标准已校准触控设备记录自身各响应坐标,并通过通讯获取所述待校准触控设备的各响应坐标。
6.一种触控设备坐标校准装置,其特征在于,包括:
响应坐标获取模块,用于在校准模式下,当检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作时,获取所述待校准触控设备的各响应坐标、固定于所述待校准触控设备之上的标准已校准触控设备的各响应坐标;所述标准已校准触控设备与待校准触控设备重叠,并且边缘严格对齐;
判断模块,用于判断所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标是否一致;
校准参数计算模块,用于若所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标不一致,则根据所述待校准触控设备的各响应坐标、所述标准已校准标准触控设备的各响应坐标计算出校准参数,并根据该校准参数对所述待校准触控设备进行坐标校准;
结束模块,用于若所述待校准触控设备的各响应坐标与所述标准已校准触控设备的对应响应坐标一致,则校准结束。
7.根据权利要求1所述的触控设备坐标校准装置,其特征在于,还包括:
坐标判断模块,用于在所述检测到待校准触控设备上存在两次以上的触摸操作之后、获取响应坐标之前,判断在所述两次以上的触摸操作中,各校准触摸点所对应的X坐标与Y坐标是否均不相同;
第一执行模块,用于若各校准触摸点所对应的X坐标与Y坐标中有任意一个相同,则继续进行检测;
第二执行模块,用于若各校准触摸点所对应的X坐标与Y坐标均不相同,则通知所述响应坐标获取模块进入获取响应坐标的步骤。
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