[发明专利]混合集成电路的微调测试系统及其方法

权利要求书

1.一种混合集成电路的微调测试系统，该混合集成电路包括多路DAC模块，其特征在于：所述微调测试系统包括信号产生器、数字拨码开关、通道选择电路、锁存译码单元；所述信号产生器产生第一段数字信号；所述数字拨码开关产生第二段数字信号；第一段数字信号与第二段数字信号共同构成输入多路DAC模块的输入信号；第二段数字信号输入通道选择电路以选择多路DAC模块的通道，并将选择的通道存储在锁存译码单元；多路DAC模块通过对输入信号经过模拟输出，并将模拟输出的结果以及通道传递给控制装置，并通过控制装置对多路DAC模块进行反馈调节。

2.根据权利要求1所述的混合集成电路的微调测试系统，其特征在于：所述信号产生器为FPGA芯片。

3.根据权利要求1所述的混合集成电路的微调测试系统，其特征在于：所述输入信号共16位，所述第一段数字信号为所述输入信号的高12位，所述第二段数字信号为所述输入信号的低4位。

4.根据权利要求1所述的混合集成电路的微调测试系统，其特征在于：它还包括一测量装置，用于对模拟输出进行测量，并将测量的结果传递给控制装置。

5.根据权利要求1或2所述的混合集成电路的微调测试系统，其特征在于：所述信号产生器包括以下信号：

Reset_b，优先级最高，一旦检测到下降沿时DAC测试模块全部寄存器清零复位；

Auto，高电平时，输出数字信号自动变换，低电平时，输出数字信号手动变换，Key起作用；

Key，控键每按下一次后，输出数字信号流变换一次；

Direction，高电平时，输出数字信号为自增模式，低电平时，输出数字信号为自减模式；

Special，高电平时，输出数字信号为用户自定义的数组，低电平时，输出数字信号每个设定时钟单位变化一个数字位；

Start，高电平时，微调测试系统工作，低电平时，微调测试系统停止。

6.一种使用如上述权利要求之一系统的微调测试方法，其特征在于，它包括以下步骤：

（1）偏置调整：当输入信号为0000H时，保证模拟输出的结果为－10.000000V；

（2）增益调整：当输入信号为FFFFH时，保证模拟输出的结果为9.999694V；

（3）零位调整：当输入信号为8000H时，保证模拟输出的结果为0V。

7.根据权利要求6所述的微调测试方法，其特征在于：所述多路DAC模块包括激光调阻装置，该激光调阻装置通过调整厚膜电阻以调节模拟信号的模拟输出。