[发明专利]一种综合孔径辐射计图像反演方法

权利要求书

1.一种综合孔径辐射计图像反演方法，其特征在于，包括下述步骤：

S1：将目标场景的可见度数据V和辐射计的冲击响应矩阵G分别代入p(V|G，T，β)＝N(V|GT，β^-1I_n)和中获得可见度的概率测度初始值β和不同像素点i的概率测度初始值a_i；

式中n为所有可见度采样样本数，T_i为不同像素点i的亮温值，T为亮温图像分布；p(T|a)表示亮温图像分布T的先验概率，m为亮温图像的像素总数；a＝[a₁，…，a_m]^T；I_n表示n维单位矩阵；

S2：将所述冲击响应矩阵G代入G^TGz_i＝λ_izi中获得G^TG矩阵的特征值λ_i；

S3：将所述可见度的概率测度初始值β和概率测度初始值a代入p(T|G，a，β)＝N(T|u，∑_T|V)中得出后验概率的均值u和后验概率的方差∑_T|V；

S4：将所述特征值λ_i、所述可见度的概率测度初始值β、不同像素点i的所述概率测度初始值a_i和所述后验概率的均值u代入和得到可见度的概率测度更新值β^new和不同像素点i的概率测度更新值其中，u_i为向量u的第i个元素，

S5：判断所述可见度的概率测度更新值β^new和概率测度更新值a^new是否收敛；若同时收敛，则进入步骤S6：，若否，则返回步骤S3；

S6：将所述可见度的概率测度更新值β^new、所述概率测度更新值a^new、后验概率的均值u和后验概率的方差∑_T|V代入公式p(T|G，a^new，β^new)＝N(T|u，∑_T|V)获得亮温图像分布T。

2.如权利要求1所述的反演方法，其特征在于，在步骤S1之前还包括下述步骤：综合孔径辐射计利用天线阵列接收目标场景的微波辐射热信号，进行复相关处理后输出目标场景的可见度数据V和辐射计的冲击响应矩阵G。

3.如权利要求1所述的反演方法，其特征在于，所述

p(V|G，T，β)＝N(V|GT，β^-1I_n)和是基于贝叶斯回归估计并结合综合孔径辐射计的辐射成像原理获得的。

4.如权利要求1所述的反演方法，其特征在于，在步骤S5中，通过收敛公式判断所述可见度的概率测度更新值β^new和所述概率测度更新值a^new是否收敛，式中d^new表示β^new和a^new，当d^new满足收敛公式中的条件时，d^new收敛。