[发明专利]一种具有欧姆接触保护层的碳化硅器件及其制作方法无效
申请号: | 201210345298.0 | 申请日: | 2012-09-17 |
公开(公告)号: | CN102832238A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 何志;郑柳;刘胜北;黄亚军;樊中朝;季安;杨富华;孙国胜;欧阳忠 | 申请(专利权)人: | 东莞市天域半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/45 | 分类号: | H01L29/45;H01L21/04 |
代理公司: | 广州市南锋专利事务所有限公司 44228 | 代理人: | 罗晓聪 |
地址: | 523000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 欧姆 接触 保护层 碳化硅 器件 及其 制作方法 | ||
1.一种具有欧姆接触保护层的碳化硅器件,其特征在于:该器件包括:碳化硅(1)、在碳化硅(1)表面沉积的欧姆接触层(2)、以及在欧姆接触层(2)上沉积的保护层(3),所述的保护层(3)为氮化钛。
2.根据权利要求1所述的一种具有欧姆接触保护层的碳化硅器件,其特征在于:所述的碳化硅(1)用于形成欧姆接触的表面采用N型掺杂或者P型掺杂,掺杂浓度至少为1×1015cm-3。
3.根据权利要求1所述的一种具有欧姆接触保护层的碳化硅器件,其特征在于:所述的欧姆接触层(2)所淀积的物质为金属、合金以及化合物中的一种或者几种。
4.一种具有欧姆接触保护层的碳化硅器件的制作方法,其特征在于:该制作方法包括以下步骤:
步骤一:提供具有洁净表面的碳化硅(1);
步骤二:在碳化硅(1)表面上淀积欧姆接触层(2);
步骤三:在欧姆接触层(3)上淀积氮化钛,形成欧姆接触的保护层(3);
步骤四:对器件进行退火,最终形成具有欧姆接触保护层(3)的碳化硅器件。
5.根据权利要求4所述的一种具有欧姆接触保护层的碳化硅器件的制作方法,其特征在于:所述步骤一中碳化硅(1)用于形成欧姆接触的表面采用N型掺杂或者P型掺杂,其掺杂浓度至少为1×1015cm-3。
6.根据权利要求4所述的一种具有欧姆接触保护层的碳化硅器件的制作方法,其特征在于:所述步骤二中所淀积的欧姆接触层(2)所淀积的物质为金属、合金以及化合物中的一种或者几种。
7.根据权利要求4所述的一种具有欧姆接触保护层的碳化硅器件的制作方法,其特征在于:所述步骤三中淀积的氮化钛厚度为100—5000埃。
8.根据权利要求4所述的一种具有欧姆接触保护层的碳化硅器件的制作方法,其特征在于:所述步骤三中氮化钛淀积采用直流磁控溅射、反应磁控溅射、射频磁控溅射、低压化学汽相淀积、金属有机物化学气相淀积、离子束辅助沉积法中任意一种方法。
9.根据权利要求4所述的一种具有欧姆接触保护层的碳化硅器件的制作方法,其特征在于:所述步骤四中退火温度范围为300—1200℃,并且退火在惰性气体的保护气氛中进行。
10.根据权利要求9所述的一种具有欧姆接触保护层的碳化硅器件的制作方法,其特征在于:所述的惰性气体为:N2或Ar。
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