[发明专利]PCIE总线设备存储空间性能测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及卫星移动通信系统技术领域，特别涉及一种PCIE总线设备存储空间性能测试方法。

背景技术

PCI Express是新一代的总线接口。PCI-E的接口根据总线位宽不同而有所差异，包括X1、X4、X8以及X16，而X2模式将用于内部接口而非插槽模式。PCI-E规格从1条通道连接到32条通道连接，有非常强的伸缩性，以满足不同系统设备对数据传输带宽的不同需求。此外，较短的PCI-E卡可以插入较长的PCI-E插槽中使用，PCI-E接口还能够支持热拔插。PCI-E X1的250MB/秒传输速度可以满足主流声效芯片、网卡芯片和存储设备对数据传输带宽的需求，而位宽为X16的PCI-E接口能够提供5GB/s的带宽，取代了AGP接口应用。 

PCI-E技术规格允许实现X1（250MB/秒），X2，X4，X8，X12，X16和X32通道规格，目前PCI-E X1和PCI-E X16已成为PCI-E主流规格，同时很多芯片组厂商在南桥芯片当中添加对PCI-E X1的支持，在北桥芯片当中添加对PCI-E X16的支持。除去提供极高数据传输带宽之外，PCI-E因为采用串行数据包方式传递数据，所以PCI-E接口每个针脚可以获得比传统I/O标准更多的带宽，可以降低PCI-E设备生产成本和体积。另外，PCI-E也支持高阶电源管理，支持热插拔，支持数据同步传输，为优先传输数据进行带宽优化，故PCIE总线得到广泛应用。

由于PCIE总线的广泛应用，PCIE总线设备日益增多。存储空间能否正常工作影响了PCIE总线设备能否正常工作，故存储空间是衡量PCIE总线性能的重要内容之一，因此有效的PCIE总线设备存储空间测试方法是非常必要的。目前通常使用的测试PCIE总线设备存储空间的方法是，通过向存储空间指定地址写入单个数据，然后读出存储空间的数据，检查读出的数据与写入的数据是否相同，如果相同，则PCIE总线设备存储空间工作正常，否则异常。通过此种方法验证PCIE总线设备存储空间的工作状态正确性，其缺点是，只能检查测试所指定地址的存储空间正常与否，不能检查整个PCIE总线设备存储空间的正确性。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种PCIE总线设备存储空间测试方法，用于测试PCIE总线设备的存储空间能否正常工作。

为了实现上述发明目的，本发明提供了以下技术方案：

一种PCIE总线设备存储空间性能测试方法，包括以下步骤：

步骤1：获取PCIE总线设备存储空间容量；

步骤2：根据PCIE总线设备存储空间容量，分配与PCIE总线设备存储空间容量一致的读数据缓冲区和写数据缓冲区；

步骤3：向写数据缓冲区填充数据；

步骤4：将写数据缓冲区填充的数据写入PCIE总线设备存储空间；

步骤5：将PCIE总线设备存储空间写入的数据读取到读数据缓冲区；

步骤6：检查读数据缓冲区的数据与写数据缓冲区的数据是否相同，如果读数据缓冲区和写数据缓冲区中对应位置的对应数据相同，则PCIE总线设备存储空间正常工作，否则PCIE总线设备存储空间不能正常工作。

与现有技术相比，本发明的有益效果：采用本发明方法对PCIE总线设备的存储空间进行测试，可以覆盖到PCIE总线设备的存储空间的所有地址，从而可以全面、准确、高效地验证PCIE总线设备的存储空间能否正常工作。

附图说明：

图1为PCIE总线设备存储空间测试方法的流程框图。

具体实施方式

下面结合试验例及具体实施方式对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。

参考图1，本发明PCIE总线设备存储空间性能测试方法，包括以下步骤：

S1：驱动模块获取PCIE总线设备的存储空间的容量；

S2：根据PCIE总线设备存储空间容量，驱动模块分配一个读数据缓冲区和一个写数据缓冲区，所述读数据缓冲区和写数据缓冲区的容量均与PCIE总线设备存储空间容量一致；

S3：向写数据缓冲区填充数据；所述数据可以是任意或随机的数据，也可以是递增或递减数据，本实施例中，选取公差为1的一系列递增数据填充写数据缓冲区；

S4：驱动模块将写数据缓冲区填充的数据写入PCIE总线设备存储空间；

S5：驱动模块将PCIE总线设备存储空间写入的数据读取到读数据缓冲区；