[发明专利]一种用于低频下的解剖M型成像方法、装置及超声设备有效

专利信息
申请号: 201210339406.3 申请日: 2012-09-14
公开(公告)号: CN102846340A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 杨仲汉;周玉禄;李浩 申请(专利权)人: 深圳市开立科技有限公司
主分类号: A61B8/00 分类号: A61B8/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518051 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 低频 解剖 成像 方法 装置 超声 设备
【权利要求书】:

1.一种用于低频下的解剖M型成像方法,包括:

步骤一:在超声图像显示区绘制解剖M线;

步骤二:获取解剖M线上各点的坐标位置;

步骤三:根据解剖M线上各点的坐标获取各点对应的超声图像的灰度值数据;

步骤四:根据解剖M线上各点的图像灰度值数据利用插值算法绘制出对应的解剖M型图像。

2.根据权利要求1所述的成像方法,其特征在于,所述解剖M型成像方法在步骤三和步骤四之间还可以包括根据解剖M线个数的不同将解剖M图像显示区域沿纵轴划分成对应个数的显示分区。

3.根据权利要求1或2所述的成像方法,其特征在于,所述解剖M型图像各个显示分区的高度计算公式为:每个解剖M图像显示分区的高度= 整个解剖M图像显示区域/M线个数。

4.根据权利要求1或2所述的成像方法,其特征在于,所述解剖M型图像显示区域在纵轴上用于显示对应于解剖M线上各点的灰度值图像数据;在横轴上用于显示随时间的变化各点对应的的图像数据产生的变化。

5.根据权利要求4所述的成像方法,其特征在于,所述解剖M图像显示区域在纵轴方向上利用二次线性插值算法绘制出与解剖M线对应的图像,所述二次线性插值算法为分两次线性插值;

第一次线性插值为求解剖M图像上某点对应于解剖M线上的点及偏移量,公式为:解剖M图像纵轴方向上某点序列位置*解剖M图像纵轴方向上点的个数/解剖M线上点的个数=整数+余数(所述公式所得结果的整数部分即为解剖M图像纵轴方向上某点对应于解剖M线上的点的位置;余数部分为M图像上的点相对于M线上对应的点的偏移量)

第二次线性插值为根据a的结果求解剖M图像上该点的具体位置数据: 

M线上的点的位置数据+(M线上的点的位置数据+1)*偏移量/M图像纵轴方向上点的个数-M线上的点的位置数据*偏移量/M图像纵轴方向上点的个数。

6.根据权利要求4所述的成像方法,其特征在于,所述解剖M型图像显示区域在横轴上利用插值算法在低频条件下显示随时间的变化对应的各点的图像数据产生的变化,所述插值算法为:新当前数据 = 当前数据 + (前一数据 – 当前数据)* 第几个插值点/ 扫描速度。

7.一种用于低频下的解剖M型成像装置,所述装置包括:第一绘制模块、第一获取模块、第二获取模块、第二绘制模块;

所述第一绘制模块,用于在超声图像显示区绘制解剖M线;

所述第一获取模块,用于获取解剖M线上各点的坐标位置;

所述第二获取模块,用于根据解剖M线上各点的坐标获取各点对应的超声图像的灰度值数据;

所述第二绘制模块,用于根据解剖M线上各点的图像灰度值数据利用插值算法在各个显示分区绘制出解剖M线对应的解剖M型图像。

8.根据权利要求7所述的成像装置,其特征在于,所述装置还包括一划分模块,所述划分模块用于根据解剖M线条数的不同将解剖M型图像显示区域划分成对应个数的显示分区。

9.一种超声设备,所述超声设备包括一用于低频下的解剖M型成像装置,其特征在于,所述装置包括:第一绘制模块、第一获取模块、第二获取模块、第二绘制模块;

所述第一绘制模块,用于在超声图像显示区绘制解剖M线;

所述第一获取模块,用于获取解剖M线上各点的坐标位置;

所述第二获取模块,用于根据解剖M线上各点的坐标获取各点对应的超声图像的灰度值数据;

所述第二绘制模块,用于根据解剖M线上各点的图像灰度值数据利用插值算法在各个显示分区绘制出解剖M线对应的解剖M型图像。

10.根据权利要求9所述的超声设备,其特征在于,所述装置还包括一划分模块,所述划分模块用于根据解剖M线条数的不同将解剖M图像显示区域划分成对应个数的显示分区。

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