[发明专利]用于根据传播时间原理测量料位的方法有效

专利信息
申请号: 201210332654.5 申请日: 2012-09-10
公开(公告)号: CN102997975A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 斯特凡·格伦弗洛;阿列克谢·马利诺夫斯基;克劳斯·潘克拉茨 申请(专利权)人: 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
主分类号: G01F23/284 分类号: G01F23/284
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 张焕生;谢丽娜
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 根据 传播 时间 原理 测量 方法
【权利要求书】:

1.一种利用根据测量装置中传播时间原理工作的料位测量设备(3)来测量容器(1)中的填充物质的料位(L)的方法,其中,在空容器(1)的情况中,发射到所述容器(1)中的微波信号(T)的至少一部分经由在所述容器(1)的底部上的反射而反射回所述料位测量设备(3),其中

所述料位测量设备(3)发射微波信号(T)至所述容器(1)中并在依赖于该信号在所述容器(1)中传播的路径距离的传播时间之后把该信号在所述容器(1)中反射到所述料位测量设备(3)的部分作为被接收信号(R)而接收回,

基于所述被接收信号(R)推导出回波函数(E(P)),所述回波函数把所述被接收信号(R)的振幅表达为与该信号的传播时间或该信号在所述容器中传播的路径距离相对应的位置(P)的函数,

基于所述回波函数(E(P)),检测所述回波函数是否包含归因于所述填充物质的表面上的反射的料位回波(EL)以及所述回波函数是否包含归因于容器底部上的反射的容器底部回波(EF),并且

仅在下列情况下指示空容器的存在:在相应的回波函数(E(P))中,未检测到料位回波(EL),并且在相应的回波函数(E(P))中,在容器底部回波位置(PF)处检测到容器底部回波(EF),所述容器底部回波位置位于所述回波函数(E(P))的先前确定的双侧受限的空回波位置范围(ΔPempty)中,其中,所述容器底部回波(EF)在空容器(1)的情况下出现在依赖于所述容器(1)的形状和所述料位测量设备(3)的安装位置的空回波位置(Pempty)处。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述空回波位置(Pempty)通过包括下列的步骤来确定:

在所述容器(1)被排空至少一次的时间段内,所述料位测量设备(3)发射微波信号(T)至所述容器(1)中并在依赖于该信号在所述容器(1)中传播的路径距离的传播时间之后把该信号在所述容器(1)中反射到所述料位测量设备(3)的部分作为被接收信号(R)而接收回,

基于所述被接收信号(R)推导出回波函数(E(P)),所述回波函数把所述被接收信号(R)的振幅表达为与该信号的传播时间或该信号在所述容器中传播的路径距离相对应的位置(P)的函数,

基于所述回波函数(E(P)),确定所述回波函数(E(P))中可检测的所述容器底部回波(EF)的容器底部回波位置(PF),并且

当在所述时间段中检测到至少一个容器底部回波(EF)时,所述空回波位置(Pempty)被设为等于在所述时间段中确定的所述最小容器底部回波位置(PF)。

3.根据权利要求2所述的方法,其中

预确定包围空距离位置(PD)的空距离位置范围(ΔPD),其中,在所述空距离位置中出现的回波既不可识别为料位回波(EL),也不可识别为容器底部回波(EF),其中,所述空距离位置(D)是对应于到所述料位测量设备(3)的距离的位置,其中在空容器(1)的情况下从所述料位测量设备(3)发射的微波信号(T)首先到达所述容器底部的一部分,

当在所述时间段期间未检测到容器底部回波(EF)或者在所述时间段期间出现的所述最小容器底部回波位置(PF)直接与所述空距离位置范围(ΔPD)接界时,所述空回波位置范围(ΔPempty)被设为等于所述空距离位置范围(ΔPD),

当确定的空回波位置(Pempty)超出所述空距离位置范围(ΔPD)的量大于所述料位测量设备(3)的位置确定精度时,所述空回波位置范围(ΔPempty)被设为等于空回波位置(Pempty)包围范围,该包围范围的宽度大于所述位置确定精度且小于所述位置确定精度的个位数倍数,并且,

在后续的定期测量操作中,在所述空回波位置范围(ΔPempty)内出现的回波被识别为容器底部回波(EF)。

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