[发明专利]轧制铜箔有效
申请号: | 201210332530.7 | 申请日: | 2012-09-10 |
公开(公告)号: | CN103421977A | 公开(公告)日: | 2013-12-04 |
发明(设计)人: | 室贺岳海;关聪至 | 申请(专利权)人: | 株式会社SH铜业 |
主分类号: | C22C9/00 | 分类号: | C22C9/00;C22F1/08;B21B1/40;H05K1/09 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 金鲜英;刘强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 轧制 铜箔 | ||
1.一种轧制铜箔,其特征在于,其为具备主表面、并且具有平行于所述主表面的多种晶面的最终冷轧工序后、再结晶退火工序前的轧制铜箔,
所述多种晶面包含{022}面、{002}面、{113}面、{111}面、以及{133}面,
将由对于所述主表面的使用了2θ/θ法的X射线衍射测定而求出的、按照合计值为100的方式换算得到的所述各晶面的衍射峰强度比分别设为I{022}、I{002}、I{113}、I{111}、以及I{133}时,
I{022}+I{002}≥75,
由对于具有{022}面、{002}面、{113}面、{111}面、以及{133}面的粉末铜的JCPDS卡片或ICDD卡片中记载的所述各晶面的标准的衍射峰的相对强度而求出的、按照合计值为100的方式换算得到的所述各晶面的衍射峰强度比中,将所述{113}面、所述{111}面、以及所述{133}面的衍射峰强度比分别设为Io{113}、Io{111}、以及Io{133},将由对于所述主表面的所述X射线衍射测定求出的所述{113}面、所述{111}面、以及所述{133}面的衍射峰的半宽度分别设为FWHM{113}、FWHM{111}、以及FWHM{133}时,
[(I{113}/Io{113})×FWHM{113}]+[(I{111}/Io{111})×FWHM{111}]+[(I{133}/Io{133})×FWHM{133}]≤1.5,
所述主表面的基于十点平均粗糙度的表面粗糙度为十点平均粗糙度≤1.2μm。
2.根据权利要求1所述的轧制铜箔,其特征在于,其以JIS C1020中规定的无氧铜、或JIS C1100中规定的韧铜为主要成分。
3.根据权利要求1或2所述的轧制铜箔,其特征在于,其添加有银、硼、钛、锡中的至少任一种。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的轧制铜箔,其特征在于,通过总加工度为90%以上的所述最终冷轧工序,厚度成为20μm以下。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的轧制铜箔,其特征在于,用于柔性印刷线路板。
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