[发明专利]一种纳米器件的内应力消除方法无效
申请号: | 201210328643.X | 申请日: | 2012-09-07 |
公开(公告)号: | CN102807190A | 公开(公告)日: | 2012-12-05 |
发明(设计)人: | 邹强;秦月辰;刘文涛;朱哲;傅星;马建国;薛涛;王慧;帕提曼·托乎提 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | B82B3/00 | 分类号: | B82B3/00 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 程毓英 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纳米 器件 内应力 消除 方法 | ||
【权利要求书】:
1.一种纳米器件的内应力消除方法,其特征在于,将纳米器件在热处理设备中以2-8℃/min的速度升温到100~500℃之间的某个温度,保温一段时间后,再随热处理设备环境缓慢降温至室温,取出。
2.根据权利要求1所述的纳米器件的内应力消除方法,其特征在于,以5℃/min的速度缓慢升温到400℃,保温1-2h,之后随炉体降温环境缓慢降温至室温。
3.根据权利要求1所述的纳米器件的内应力消除方法,其特征在于,所述的热处理设备为马弗炉、管式炉或电阻炉。
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