[发明专利]用于测量天线阻抗的装置及方法

权利要求书

1.一种用于测量天线阻抗的装置，所述装置包括：

信号源，耦接至所述天线，所述信号源经配置用以产生射频信号；

方向性耦合器，其经配置用以接收所述射频信号，并基于所述射频信号输出反射信号以及正向功率信号；

第一混波器，耦接至所述方向性耦合器，所述第一混波器经配置用以对所述反射信号以及信号进行混波，以产生第一和积；

第一低通滤波器，耦接至所述第一混波器的输出端，所述第一低通滤波器经配置用以产生对应于所述天线的反射系数的第一输出；

延迟元件，耦接至所述方向性耦合器的输出端，所述延迟元件经配置用以产生所述反射信号的延迟版本；

第二混波器，耦接至所述延迟元件，所述第二混波器经配置用以将所述反射信号的所述延迟版本与所述信号进行混波，以产生第二和积；以及

第二低通滤波器，耦接至所述第二混波器的输出端，所述第二低通滤波器经配置用以产生对应于所述反射系数的第二输出，

其中，所述第一输出对应于所述反射系数的实部，且所述第二输出对应于所述反射系数的虚部。

2.根据权利要求1所述的装置，还包括限制器，耦接至所述方向性耦合器以及所述第一混波器，所述限制器经配置用以基于所述正向功率信号产生所述信号。

3.根据权利要求2所述的装置，其中所述限制器通过将所述正向功率信号的振幅衰减至预设电平从所述正向功率信号来产生所述信号。

4.根据权利要求2所述的装置，其中所述信号的频率与所述射频信号的频率相等。

5.根据权利要求4所述的装置，其中所述第一低通滤波器的截止频率小于所述射频信号的频率。

6.根据权利要求1所述的装置，其中所述第一混波器以及所述第二混波器皆包括多个正交混波器。

7.根据权利要求1所述的装置，其中所述反射信号的所述延迟版本包括具有90度相位偏移的所述反射信号。

8.一种用于测量天线阻抗的方法，包括下列步骤：

由耦接至所述天线的信号源产生射频信号；

施加所述射频信号至方向性耦合器；

由第一混波器将来自所述方向性耦合器的第一信号与信号进行混波，其中所述第一信号对应于来自所述天线的反射功率；

由第二混波器将第二信号与所述信号进行混波，其中所述第二信号与所述第一信号间具有相位偏移；

由耦接至所述第一混波器的输出端的第一低通滤波器输出所述天线的反射系数的实部；以及

由耦接至所述第二混波器的输出端的第二低通滤波器输出所述天线的所述反射系数的虚部。

9.根据权利要求8所述的方法，其中所述信号的频率与所述射频信号的频率相等。

10.根据权利要求9所述的方法，其中所述第一低通滤波器与所述第二低通滤波器的截止频率皆小于所述射频信号的频率。

11.根据权利要求8所述的方法，还包括从所述天线阻抗的振幅的所述实部及所述虚部以及从所述天线阻抗的变化率校准多个常数值。

12.根据权利要求11所述的方法，其中所述多个常数值对应于施加至所述方向性耦合器的所述射频信号的振幅及相位成分。

13.一种用于测量天线阻抗的装置，所述装置包括：

信号源，其经配置用以施加射频测试信号至所述天线；

方向性耦合器，耦接于所述信号源以及所述天线之间，所述方向性耦合器经配置用以基于所述射频信号输出反射信号以及正向功率信号；

正交下转换器，其经配置用以产生第一和积；以及

第一低通滤波器，其经配置用以滤除所述第一和积以产生对应于所述天线的反射系数的第一输出。

14.根据权利要求13所述的装置，其中所述正交下转换器还经配置用以产生第二和积。

15.根据权利要求14所述的装置，还包括第二低通滤波器，其经配置用以滤除所述第二和积以产生对应于所述反射系数的第二输出。

16.根据权利要求15所述的装置，其中所述第一低通滤波器与所述第二低通滤波器的截止频率皆小于所述射频信号的频率。