[发明专利]测量稳压组件电流的检测系统及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量稳压组件电流的检测系统及检测方法，尤指能将一稳压组件固定于一治具上，使其与一控制电路保持一段距离后，开始进行检测的检测系统，以确保在检测过程中，该稳压组件不会受到该控制电路上其它组件的干扰。

背景技术

随着科技的快速进步及经济的蓬勃发展，目前，电力已成为现代人们生活中不可或缺的主要能源，而各种电子装置（如：计算机、手机、计算器等）的需求也日渐增加，由于每种电子装置皆系由成千上万个微电子组件组合而成，因此，为了保持电子装置中的电力稳定，避免因为微电子组件的负载电压过高造成短路或断路，相关从业者常会在电子装置的控制电路中装设一稳压组件，以将控制电路中的电压信号控制在一预定范围中。然而，发明人发现，电子装置的控制电路中仍会产生电流过大的问题，且这种过电流现象多发生于该稳压组件上，因此，有必要针对该稳压组件，特别进行检测，以判断稳压组件是否发生单体不良的情况。

一般而言，以往对稳压组件进行检测时，必须先根据各种电子装置的种类（如：手机、计算器等），特别设计出一测试电路板，并将该测试电路板锁固至一治具中，而后，将待测的稳压组件装设至该测试电路板上预设的一安装位置，且串联一电源供应器及一检测装置，这样，由于该测试电路板的电子线路与该电子装置实际的内部电路相匹配，所以该稳压组件被装设至该测试电路板上，即能仿真出该稳压组件实际在电子装置中运作的状态，并使该检测装置量测出其电流大小。又，前述的测试方式并不完善，仍存在若干缺陷，兹分别详述如下：

（1）无法排除外界因素：由于稳压组件发生过电流现象的原因，除了本身单体不良外，也可能是受到了噪声干扰或静电影响所造成，例如：静电放电（Electrostatic Discharge，简称ESD）及电气过载（Electrostatic Overstress，简称EOS）等。因此，过去在进行检测作业时，检测人员并无法针对检测装置上测量出的电流，即准确地判断出该过电流现象的原因是该稳压组件的单体不良，抑或是因为外部因素（如：测试环境的影响、其它组件的静电干扰等）所造成。

（2）检测成本过高：由于在进行检测作业前，检测人员必须先针对该电子装置的类型，设计出一测试电路板，因此不仅会拖延检测作业的效率，且根据不同的电子装置，还必须分别设计出不同的测试电路板，这样一来，将会大幅增加检测的成本。

由上述可知，过去对稳压组件进行检测时，主要遭遇的难题在于检测的精确度及成本问题，因此，如何设计出一种检测系统或检测方法，以解决测试作业中易受干扰且成本过高的问题，即成为本发明在此即欲解决的重要问题。

发明内容

有鉴于过去从业者在测量稳压组件的电流值时，难以确实判断出稳压组件是否单体不良的问题，发明人凭借着多年的实务经验，并在多次的实验及测试后，终于设计出本发明的一种测量稳压组件电流的检测系统及检测方法，期望能解决现有检测系统精确度不足且成本过高的问题。

本发明的一目的，为提供一种测量稳压组件电流的检测系统，包括一控制电路、一治具、一电源供应器及一检测装置，该控制电路上设有多个第一电极接点，且各该第一电极接点对应于一稳压组件的一接脚；该治具与该控制电路保持一段距离，且包括一连接单元及一定位单元，该连接单元上设有多个第二电极接点，且各该第二电极接点能分别通过一导线，电气连接至各该第一电极接点，在一稳压组件的多支接脚被安装至该类第二电极接点的情况下，该稳压组件即能通过该类导线，与该类第一电极接点相电气连接，且令该控制电路能正常运作；该定位单元设于该连接单元上邻近该类第二电极接点的位置，且其构造与该稳压组件相匹配，以使该稳压组件的该类接脚能稳固地电气连接至该类第二电极接点；该电源供应器的正极与该类第二电极接点相电气连接，其负极电气连接至该控制电路；该检测装置串连在该类第二电极接点与该电源供应器间，或该控制电路与该电源供应器间，以检测流经该稳压组件的电流。这样，由于该检测方法将该稳压组件装设至该连接单元上，且与该控制电路相隔一段距离进行检测，故该稳压组件将不会发生静电放电或电气过载的现象，以将检测作业时可能遭遇的变量减至最少，有效提升检测作业的精确性。