[发明专利]芯片测试方法

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于包括：

第一步骤：建立用于模拟待测芯片的芯片功能的参考模型；

第二步骤：将随机测试激励在参考模型中运行，并且将随机测试激励的运行轨迹利用MD5算法进行压缩，以便得到一个标准参考值；

第三步骤：将与随机测试激励一致的随机测试程序和MD5算法程序加载到芯片中，并且，所述MD5算法程序与所述第二步骤中的MD5算法相对应；

第四步骤：使芯片运行随机测试程序；

第五步骤：使芯片运行MD5算法程序，从而把随机测试激励的运行轨迹压缩成实际运行值；

第六步骤：将芯片的实际运行值从芯片中扫描出来；以及

第七步骤：将从芯片中扫描出来的实际运行值与参考模型的标准参考值进行比较，从而验证芯片的功能正确性。

2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述芯片测试方法用于测试芯片流片后的芯片功能。

3.根据权利要求1或2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述MD5算法包括标准的MD5算法以及精简MD5算法。

4.根据权利要求1或2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述第三步骤中的MD5算法程序与所述第二步骤中的MD5算法采用相同的算法。

5.根据权利要求1或2所述的芯片测试方法，其特征在于，在所述第七步骤中，在实际运行值和标准参考值相同，则判断芯片功能正确。

6.根据权利要求1或2所述的芯片测试方法，其特征在于，在所述第七步骤中，在实际运行值和标准参考值不相同，则判断芯片功能不正确。

7.根据权利要求1或2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述第一步骤、所述第二步骤、所述第三步骤、所述第四步骤、所述第五步骤、所述第六步骤以及所述第七步骤依次执行。

8.根据权利要求1或2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述第三步骤、所述第四步骤、所述第五步骤、所述第六步骤、所述第一步骤、所述第二步骤以及所述第七步骤依次执行。

9.根据权利要求1或2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述第一步骤和所述第二步骤与所述第三步骤、所述第四步骤、所述第五步骤、所述第六步骤并行执行，在执行完所述第一步骤、所述第二步骤、所述第三步骤、所述第四步骤、所述第五步骤、所述第六步骤之后再执行第七步骤。

10.根据权利要求1或2所述的芯片测试方法，其特征在于，所述第一步骤和所述第二步骤依次执行，以及所述第三步骤、所述第四步骤、所述第五步骤、所述第六步骤依次执行；并且在执行完所述第一步骤、所述第二步骤、所述第三步骤、所述第四步骤、所述第五步骤、所述第六步骤之后再执行第七步骤。