[发明专利]显示装置无效
| 申请号: | 201210320944.8 | 申请日: | 2012-09-03 |
| 公开(公告)号: | CN102982763A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
| 发明(设计)人: | 桧垣卓也;紫藤俊一;森秀雄 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32;G09G3/20 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 罗银燕 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示装置 | ||
技术领域
本发明涉及使用包含自发光元件的像素显示图像的显示装置。特别地,本发明涉及基于亮度(luminance)减小量校正图像并显示图像的显示装置。
背景技术
当前,积极研究和开发采用诸如有机电致发光(以下称为有机EL)元件的自发光元件的自发光显示装置。通过包括有机EL元件的多个像素的布置来配置有机EL显示装置。有机EL显示装置由于自发光特性而具有诸如高速响应性和宽视角的特征,并且有望成为替代常规的液晶显示器的下一代显示装置。
但是,诸如有机EL元件的自发光元件由于被驱动而劣化。特别地,当在显示装置中使用的自发光元件连续显示固定(stationary)图像时,与其它的像素相比,显示固定图像的像素更迅速地劣化。结果,出现亮度和色度降低变得可识别的屏幕烧印(burn-in)现象。
为了解决这种问题,日本专利申请公开No.2010-139836讨论了与用于显示图像的像素分开地在显示装置中包括伪像素的技术。然后获取关于伪像素的劣化信息,并导出显示装置的亮度降低与点亮时间之间的代表性关系。并且,从在图像显示像素上显示的图像信息同时计算各像素的劣化量,并将其与亮度降低和点亮时间之间的关系逐次比较。由此计算各像素的累积劣化量,并适当地校正输入的图像数据以将累积劣化量设回为零。
日本专利申请公开No.2010-139836中讨论的技术计算并然后在存储器中存储累积劣化量。当要校正输入的图像数据时,基于存储的累积劣化量计算校正量,并向输入的图像数据应用计算的校正量。但是,根据这种技术,对于存储于存储器中的累积劣化量丢失的情况未提供对策。在这种情况下,输入的图像数据不被校正,使得显示装置的可靠性低。
发明内容
本发明针对高可靠性的显示装置,即使当存储于存储器中的累积劣化量(即,累积亮度降低量)丢失时,其也能够适当地校正输入的图像数据。
根据本发明的一个方面,显示装置包括:图像显示单元,在所述图像显示单元中布置具有自发光元件的多个像素;第一单元,被配置为对于每一个像素累积每单位时间的亮度降低量,并将累积值设为第一亮度降低量;第二单元,被配置为对于每一个像素检测在自发光元件中流动的电流或自发光元件的电压值,并由检测到的电流值或电压值计算第二亮度降低量;以及校正单元,被配置为使用第一亮度降低量和第二亮度降低量中的一个,校正输入的图像数据。
根据本发明的示例性实施例,第一单元计算在累积各像素的亮度降低量之后各像素的亮度降低量(即,第一亮度降低量)。并且,第二单元在不累积各像素的亮度降低量的情况下计算与第一单元相同水平的亮度降低量。可基于计算值中的任一个适当地校正输入的图像数据。如果第一单元中的累积亮度降低量存储单元中的数据丢失,那么可基于第二单元的计算值适当地校正输入的图像数据。并且,第一单元中的存储单元可被由第二单元执行的计算的结果更新,使得可以恢复数据。可以实现即使当存储于存储器中的累积亮度降低量丢失时也能够适当地校正输入的图像数据的高可靠性的显示装置。
从参照附图对示例性实施例的以下详细描述,本发明的进一步的特征和方面将变得明显。
附图说明
被并入说明书中并构成其一部分的附图示出本发明的示例性实施例、特征和方面,并与描述一起用于解释本发明的原理。
图1示出根据本发明示例性实施例的显示装置的配置例子。
图2是示出当以恒定电压驱动有机EL元件时的劣化特性曲线的例子的曲线图。
图3是示出根据本发明第一示例性实施例的输入的图像数据的校正的框图。
图4是示出根据本发明第二示例性实施例的使用第一单元校正输入的图像数据的框图。
图5是示出根据本发明第二示例性实施例的使用第二单元校正输入的图像数据的框图。
具体实施方式
以下将参照附图详细描述本发明的各种示例性实施例、特征和方面。
图1示出根据本发明示例性实施例的显示装置的配置例子。
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