[发明专利]预测式的触摸表面扫描

权利要求书

1.一种方法，包括：

基于对触摸传感表面的第一次扫描，确定接近所述触摸传感表面的传导物体的第一分辨位置；

预测所述传导物体的位置；以及

通过执行对所述触摸传感表面的传感器元件的子集的第二次扫描来确定所述传导物体的第二分辨位置，其中，所述传感器元件的子集基于所述传导物体的所述预测位置来选择。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述传感器元件的子集包括与环绕所述预测位置的区域内的其他传感器元件交叉的传感器元件。

3.如权利要求1所述的方法，其中，预测所述传导物体的位置包括计算所述传导物体的速度。

4.如权利要求1所述的方法，其中，预测所述传导物体的位置包括选择所述第一分辨位置作为所述预测位置。

5.如权利要求1所述的方法，其中，预测所述传导物体的位置包括计算所述传导物体的加速度。

6.如权利要求1所述的方法，还包括：

通过执行一系列互电容扫描来跟踪所述传导物体的分辨位置，其中，所述第二次扫描是所述一系列互电容扫描中的一个；以及

通过在所述一系列互电容扫描中的互电容扫描之间的时间期间在所述触摸传感表面的至少一部分上扫描新接触部来检测接近所述触摸传感表面的额外的传导物体。

7.如权利要求6所述的方法，其中，扫描新接触部包括：

使一组传感器元件彼此电耦合，以及

测量电耦合的这组传感器元件的自电容。

8.如权利要求6所述的方法，其中，所述自电容扫描包括传感器元件的第二子集，所述传感器元件的第二子集表示少于所述触摸传感表面的全部传感器元件。

9.一种方法，包括：

基于对触摸传感表面的第一次扫描来确定接近所述触摸传感表面的传导物体的位置；

基于所述第一次扫描和第二次扫描之间的持续时间来计算所述传导物体的预测位置的搜索窗口；以及

执行所述第二次扫描，其中，所述第二次扫描包括传感器元件的交叉点，其中，所述交叉点在所述搜索窗口内。

10.如权利要求9所述的方法，其中，所述搜索窗口包括在环绕所述预测位置的区域内的传感器元件的交叉点。

11.如权利要求9所述的方法，其中，计算所述搜索窗口包括计算所述传导物体的速度。

12.如权利要求9所述的方法，其中，计算所述搜索窗口包括计算所述传导物体的加速度。

13.如权利要求9所述的方法，还包括：

通过执行一系列互电容扫描来跟踪所述传导物体的分辨位置，其中，所述第二次扫描是所述一系列互电容扫描中的一个；以及

通过在所述一系列互电容扫描中的互电容扫描之间执行对所述触摸传感表面的至少一部分的自电容扫描来检测在所述触摸传感表面处的额外的传导物体。

14.如权利要求9所述的方法，还包括：响应于确定所述传导物体没有在所述搜索窗口内，通过扫描额外的传感器元件交叉点来扩大所述搜索窗口。

15.如权利要求14所述的方法，其中，所述搜索窗口被扩大为包括整个触摸传感表面。

16.如权利要求14所述的方法，其中，所述搜索窗口基于所述传导物体的移动方向来扩大。

17.如权利要求14所述的方法，其中，所述搜索窗口被扩大为包括最靠近具有最高被测电容值的交叉点的额外交叉点。

18.一种触摸传感系统，包括：

电容传感器阵列，其包括多个传感器元件；

电容传感器，其被配置成测量所述多个传感器元件的各传感器元件之间的多个交叉点的每个交叉点的电容；以及

处理逻辑，其被配置成基于扫描搜索窗口内的、交叉点的子集来确定传导物体的分辨位置，其中，所述搜索窗口界定围绕所述传导物体的预测位置的区域。

19.如权利要求18所述的触摸传感系统，其中，所述预测位置基于所述传导物体的至少一个先前确定的位置来推断。

20.如权利要求18所述的触摸传感系统，其中，所述电容传感器还被配置成：

执行作为一系列互电容扫描之一的第二次扫描，以及

在所述一系列互电容扫描的互电容扫描之间执行对所述触摸传感表面的至少一部分的自电容扫描；以及

其中，所述处理逻辑还被配置成：

基于所述一系列互电容扫描来随着时间的过去跟踪所述传导物体的分辨位置，以及

基于所述自电容扫描来检测在所述触摸传感表面处的额外的传导物体。