[发明专利]用于操作金属检测装置的方法及装置

权利要求书

1.一种用于操作金属检测装置的方法，所述金属检测装置包括具有驱动电路（4）的发射器单元（100），所述驱动电路（4）通过第一组的两个驱动开关（61A、62A）交替地将两个不同的驱动电压（V0、V1）施加到发射器线圈（101）的第一末端，以及通过第二组的两个驱动开关（61B、62B）交替地将所述两个不同的驱动电压（V0、V1）施加到所述发射器线圈（101）的第二末端，所述发射器线圈（101）耦合到接收器线圈（201），所述接收器线圈（201）连接到接收器单元（200）的输入端，所述方法的特征在于：至少产生第一波形w_A来用于控制所述第一组的驱动开关（61A、62A），并且至少产生第二波形w_B来用于控制所述第二组的驱动开关（61B、62B），将对应于所选工作频率的所述第一波形w_A和所述第二波形w_B相对于彼此偏移，以便允许期望的驱动电流I_C流经所述发射器线圈（101）。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述第一组的驱动开关或所述第二组的驱动开关（61A、62A；61B、62B）的所述波形w_A或所述波形w_B相对于另一波形w_B或另一波形w_A偏移，或者其中，将两个波形w_B和w_A相对于彼此在相反的方向偏移。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，为了控制每个驱动开关（61A、62A；61B、62B），产生独立的波形w_A1、w_A2和w_B1、w_B2，并且其中，提供用于所述第一组的驱动开关和所述第二组的驱动开关（61A、62A；61B、62B）的所述波形w_A1、w_A2和w_B1、w_B2优选相对于彼此移相180°，或者被配置为单独控制相关的驱动开关（61A；62A；61B；62B）。

4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其中，使波形w_A和/或w_B以步骤偏移，所述步骤的步长具有与工作频率f_OP的波长除以整数n对应的长度。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，对与所述波形w_A、w_B或者所述波形w_A1、w_A2和w_B1、w_B2对应的极性为“0”或“1”的节段s1、s0进行偏移，优选地所述节段s1、s0以时钟频率f_RC在移位寄存器（32A、32B；32_A1、32_A2、32_B1、32_B2）中循环，从而在所述移位寄存器（32A、32B；32_A1、32_A2、32_B1、32_B2）的输出端产生期望的波形，通过将整数n乘以工作频率f_OP来得到所述时钟频率f_RC。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，针对所述波形w_A、w_B的半周期或者所述波形w_A1、w_A2和w_B1、w_B2的半周期，将节段s 1、s0的极性反相，从而允许使用更短的移位寄存器（32A、32B；32_A1、32_A2、32_B1、32_B2），所述更短的移位寄存器仅被提供有所述波形w_A、w_B的半波或者所述波形w_A1、w_A2和w_B1、w_B2的半波。