[发明专利]时空联合调制干涉成像光谱仪的星上光谱定标方法及系统无效

专利信息
申请号: 201210313769.X 申请日: 2012-08-30
公开(公告)号: CN102841342A 公开(公告)日: 2012-12-26
发明(设计)人: 相里斌;计忠瑛;崔燕;石大莲;高静 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 杨引雪
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 时空 联合 调制 干涉 成像 光谱仪 光谱 定标 方法 系统
【权利要求书】:

1.时空联合调制干涉成像光谱仪的星上光谱定标方法,其特征在于:包括以下步骤:

(1)定标灯的辐射光经过积分球匀光后由积分球出口射出;

(2)积分球出口射出的均匀光经过光谱玻璃形成具有光谱特征吸收峰的定标光;

(3)定标光经反射棱镜反射至干涉成像光谱仪的一次像面上,并照明一次像面的边缘视场形成星上定标视场,星上定标视场是光谱维x方向全视场、空间维y方向边缘局部视场;

(4)一次像面视场的星上定标光依次通过干涉成像光谱仪中的剪切干涉仪和富立叶成像镜,在干涉成像光谱仪的二次像面上形成星上定标干涉图;

(5)将二次像面上形成的星上定标干涉图通过光谱复原软件得到星上定标复原光谱;

(6)将星上定标复原光谱与基础星上定标复原光谱进行比对,根据特征吸收峰位置的变化实现相对光谱定标,具体为:

当特征吸收峰位置不变时,表明成像光谱仪干涉性能没变,无需修正;

当特征吸收峰位置变化时,表明成像光谱仪干涉性能改变,根据特征吸收峰漂移的方向及漂移量,修正干涉成像光谱仪的干涉参数d/f富,完成光谱定标。

2.根据权利要求1所述的时空联合调制干涉成像光谱仪的星上光谱定标方法,其特征在于:所述反射棱镜的第二反射面位于一次像面的星上定标视场的前方。

3.根据权利要求1或2所述的时空联合调制干涉成像光谱仪的星上光谱定标方法,其特征在于:所述光谱特征吸收峰具有多个特征峰。

4.时空联合调制干涉成像光谱仪的星上光谱定标系统,其特征在于:包括积分球、设置于积分球入口处的定标灯、设置于积分球出口的光谱玻璃以及反射棱镜,所述反射棱镜将透过光谱玻璃的光反射至一次像面的星上定标视场。

5.根据权利要求4所述的时空联合调制干涉成像光谱仪的星上光谱定标系统,其特征在于:反射棱镜的第二反射面位于一次像面的星上定标视场的前方。

6.根据权利要求4或5所述的时空联合调制干涉成像光谱仪的星上光谱定标系统,其特征在于:所述定标灯为两个。

7.根据权利要求6所述的时空联合调制干涉成像光谱仪的星上光谱定标系统,其特征在于:所述积分球的材料为聚四氟乙烯,内球径为35mm。

8.根据权利要求7所述的时空联合调制干涉成像光谱仪的星上光谱定标系统,其特征在于:反射棱镜的厚度为4-7mm。

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