[发明专利]输配电磁谱联合检测仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种输配电磁谱联合检测仪。

背景技术

供电设备中的电磁设备应用越来越普遍，电磁设备的使用安全和有效工作率也就与用电安全紧密关联。因此为保证用电安全，在正常的使用电磁设备的过程中，需要及时有效的判定电磁设备中损坏的部位，或者哪些电磁设备有损坏的迹象，既能及时修理又可及时防患。

发明内容

本发明提供一种输配电磁谱联合检测仪，利用高灵敏度的电磁谱技术，实现对电力设备绝缘三态物进行定量检测，对设备绝缘故障类型和发展趋势进行准确判断。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种输配电磁谱联合检测仪，其特征在于，包括热源峰谱接收装置，信号调整电路及处理装置，热源峰谱接收装置的接受端放置在电磁设备周围，其通过信号调整电路连接处理装置，处理装置连接显示器。

所述的热源峰谱接收装置为红外线探测头和紫外线探测头。

所述的信号调整电路为硅池增益放大器。

所述的处理装置包括PIC16C74单片机及其附属电路。

所述的PIC16C74单片机外连接有功率MOSFET管和IRF-840功率开关管。

本发明所具有的有益效果是：结构合理，使用方便，为电力设备的安全运行提供技术保障。仪器具有自动测量，分辨率高、测定准确、操作简单方便，自动化程度高等特点。检测设备导体、碳纤维导线纤维内芯、混合导线内芯、绝缘材料温度，能够快速准确地判断等电气设备内部的早期故障，从而为设备的绝缘缺陷诊断提供了更加完整、有效的技术手段，可广泛用于电力、石油、化工等行业部门。

附图说明

图1是本发明结构示意图；

具体实施方式

下面结合附图对本发明的实施例做进一步描述：

如图1所示的输配电磁谱联合检测仪，包括热源峰谱接收装置，信号调整电路及处理装置，热源峰谱接受装置的接受端放置在电磁设备周围，其通过信号调整电路连接处理装置，处理装置连接显示器。热源峰谱接收装置为红外线探测头和紫外线探测头。所述的信号调整电路为硅池增益放大器。处理装置包括PIC16C74单片机及其附属电路，PIC16C74单片机外连接有功率MOSFET管和IRF-840功率开关管。功率MOSFET管和IRF-840功率开关管的通断实现对激光源的频率进行调制，保证红外、紫外的吸收效果。

工作原理：

电磁设备产生热源形成磁峰谱，红外线探测头和紫外线探测头基于红外效应、紫外效应进行吸收，将电磁设备中的热能频谱nm级，通过吸收产生红外光源和紫外光源，由此得到上述红外紫外nm级信号谱波频、波长；得到后的波谱进行改变处理曲线成为红外光谱紫外光谱，针对电磁场温度场进行分析。PIC16C74单片机用于对磁峰谱进行分析处理，与内置数据库内频谱数据进行比对进而找出电磁设备中的坏点或者得出电磁设备中导线等线路的使用寿命，得出的结论通过显示器进行显示，也可通过单片机内置的通讯系统向工作人员或远程服务器以发送短信的方式提醒为以后修理、维护提供数据基础。

原理依据及检测、判定方法：

一般来讲，一台红外或紫外可见光光度计很难也不可能用来做定性分析（结构极其简单除外），如果要对某些比较复杂的未知物进行定性，除紫外可见光度计外，必须要用红外质谱色谱，甚至波谱等仪器才能解决问题。但对待定的物质是可以利用紫外吸收光谱的数据定性的。有时可以用标准参照物来做定性分析。利用紫外吸收光谱的数据定性最大吸收峰、波长λmax,最小吸收光谱λmin,最大摩尔吸收光系数∑max以吸收峰的数目、位置、拐点与标准光谱数据完全一致就可以实现对同一体处材料进行分析检测。

如果未知物（设备缺陷点）紫外吸收光谱的峰较多，结构比较复杂，可用利用标准物质定性利用多台设备做定性分析。

其中主要用到比尔定律：A＝∑πbc,lgA＝lg∑+lgbc,用lgA lg∑作为坐标，如果拐点、数目、位置一致或邻近，可判断故障点或材料形变等，便可初步判定材料问题。

一、材料结构分析

1)互变异构的判别

共轭体系的紫外吸收光谱最大吸收峰波长λmax，大于共轭非轭体系。

2)顺反异构的判别

反式异构体的空间位阻小。Λmax，∑max大于顺式结构。

3)推测导体的分子结构

1、推测导体共轭体系中和部分骨架，如果有强吸收则可能有不饱和共轭体系。

2、区分导体的结构像构型顺势反式比较要有色谱红外质谱、波谱多种联合。

二、有机材料分析