[发明专利]一种基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法及其检测系统无效

专利信息
申请号: 201210312205.4 申请日: 2012-08-29
公开(公告)号: CN102901444A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 戴华平;钱嘉伟;黄满金;沈非凡 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G06F17/50
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 胡红娟
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 mp 滤波 零件 尺寸 检测 方法 及其 系统
【权利要求书】:

1.一种基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法,包括如下步骤:

(1)对摄像机进行标定,得到像素当量系数;

(2)利用摄像机对零件进行图像采集,对采集到的零件图像进行MP小波滤波;

(3)对滤波后的零件图像进行基于微分算子的边缘检测,得到零件的边缘梯度图像;

(4)对所述的边缘梯度图像中各边缘像素进行亚像素边缘检测,得到各边缘像素的亚像素坐标;

(5)根据各边缘像素的亚像素坐标以及像素当量系数,计算出零件的尺寸。

2.根据权利要求1所述的基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法,其特征在于:所述的步骤(2)中,对零件图像进行MP小波滤波的方法为:

1)先将所述的零件图像分解成一张近似图像I1和p2-1张细节图像D1,以完成一级分解;然后将近似图像I1分解成一张近似图像I2和p2-1张细节图像D2,以完成二级分解;对近似图像I2再进行分解,依此完成n级分解,得到一张近似图像In和多张细节图像;p为大于1的自然数;

2)将分解得到的所有细节图像进行阈值化处理;

3)先根据近似图像In以及阈值化后的p2-1张细节图像Dn对近似图像In-1进行重构;然后根据重构得到的近似图像In-1以及阈值化后的p2-1张细节图像Dn-1对近似图像In-2进行重构,依此逐级进行重构;最后根据重构得到的近似图像I1以及阈值化后的p2-1张细节图像D1对零件图像进行重构,重构得到的零件图像即为滤波后的零件图像。

3.根据权利要求2所述的基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法,其特征在于:所述的步骤1)中,将目标图像分解成一张近似图像和p2-1张细节图像的过程如下,所述的目标图像为零件图像或近似图像;

a.将目标图像划分成m个图像块,所述的图像块的尺寸为p×p;

b.根据以下公式求解目标图像分解后的近似图像:

y(i)=min[xi(0),xi(1),xi(2),…,xi(p2-1)]

其中:y(i)为近似图像中第i像素的像素值,xi(0)为目标图像第i图像块的中心像素的像素值,xi(1)~xi(p2-1)分别为目标图像第i图像块中除中心像素外其余各像素的像素值;i为自然数且1≤i≤m;

c.根据以下公式求解目标图像分解后的细节图像:

zj(i)=|z′j(i)|=|xi(0)-xi(j)|

其中:zj(i)为第j张细节图像的中第i像素的像素值,z′j(i)为第j张细节图像的中第i像素的准像素值,xi(j)为目标图像第i图像块中除中心像素外其余像素中第j像素的像素值,j为自然数且1≤j≤p2-1。

4.根据权利要求2所述的基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法,其特征在于:所述的步骤2)中,对细节图像进行阈值化处理的方法为:使细节图像中每个像素的像素值与给定的像素阈值进行比较,将像素值小于或等于像素阈值的像素的像素值置为其准像素值,将像素值大于像素阈值的像素的像素值置为0。

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