[发明专利]一种基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法及其检测系统无效
申请号: | 201210312205.4 | 申请日: | 2012-08-29 |
公开(公告)号: | CN102901444A | 公开(公告)日: | 2013-01-30 |
发明(设计)人: | 戴华平;钱嘉伟;黄满金;沈非凡 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G06F17/50 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡红娟 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 mp 滤波 零件 尺寸 检测 方法 及其 系统 | ||
1.一种基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法,包括如下步骤:
(1)对摄像机进行标定,得到像素当量系数;
(2)利用摄像机对零件进行图像采集,对采集到的零件图像进行MP小波滤波;
(3)对滤波后的零件图像进行基于微分算子的边缘检测,得到零件的边缘梯度图像;
(4)对所述的边缘梯度图像中各边缘像素进行亚像素边缘检测,得到各边缘像素的亚像素坐标;
(5)根据各边缘像素的亚像素坐标以及像素当量系数,计算出零件的尺寸。
2.根据权利要求1所述的基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法,其特征在于:所述的步骤(2)中,对零件图像进行MP小波滤波的方法为:
1)先将所述的零件图像分解成一张近似图像I1和p2-1张细节图像D1,以完成一级分解;然后将近似图像I1分解成一张近似图像I2和p2-1张细节图像D2,以完成二级分解;对近似图像I2再进行分解,依此完成n级分解,得到一张近似图像In和多张细节图像;p为大于1的自然数;
2)将分解得到的所有细节图像进行阈值化处理;
3)先根据近似图像In以及阈值化后的p2-1张细节图像Dn对近似图像In-1进行重构;然后根据重构得到的近似图像In-1以及阈值化后的p2-1张细节图像Dn-1对近似图像In-2进行重构,依此逐级进行重构;最后根据重构得到的近似图像I1以及阈值化后的p2-1张细节图像D1对零件图像进行重构,重构得到的零件图像即为滤波后的零件图像。
3.根据权利要求2所述的基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法,其特征在于:所述的步骤1)中,将目标图像分解成一张近似图像和p2-1张细节图像的过程如下,所述的目标图像为零件图像或近似图像;
a.将目标图像划分成m个图像块,所述的图像块的尺寸为p×p;
b.根据以下公式求解目标图像分解后的近似图像:
y(i)=min[xi(0),xi(1),xi(2),…,xi(p2-1)]
其中:y(i)为近似图像中第i像素的像素值,xi(0)为目标图像第i图像块的中心像素的像素值,xi(1)~xi(p2-1)分别为目标图像第i图像块中除中心像素外其余各像素的像素值;i为自然数且1≤i≤m;
c.根据以下公式求解目标图像分解后的细节图像:
zj(i)=|z′j(i)|=|xi(0)-xi(j)|
其中:zj(i)为第j张细节图像的中第i像素的像素值,z′j(i)为第j张细节图像的中第i像素的准像素值,xi(j)为目标图像第i图像块中除中心像素外其余像素中第j像素的像素值,j为自然数且1≤j≤p2-1。
4.根据权利要求2所述的基于MP小波滤波的零件尺寸检测方法,其特征在于:所述的步骤2)中,对细节图像进行阈值化处理的方法为:使细节图像中每个像素的像素值与给定的像素阈值进行比较,将像素值小于或等于像素阈值的像素的像素值置为其准像素值,将像素值大于像素阈值的像素的像素值置为0。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学,未经浙江大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210312205.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种陶瓷粘土混料装置
- 下一篇:一种抹光头升降装置