[发明专利]测试方法以及可编程处理器

说明书

技术领域

本发明实施例涉及半导体技术，尤其涉及测试方法以及可编程处理器。

背景技术

存储器已广泛地被使用。为确保存储器的可靠性，上市前需要对存储器进行测试。

现有技术中CPU通过承载在操作系统之上的测试程序对存储器进行测试，测试过程中对存储器进行访问能够达到的最大频率相对较低。

发明内容

为提高测试过程中对存储器进行访问能够达到的最大频率，提供了测试方法和可编程处理器。

第一方面，提供了一种测试方法，可编程处理器确定至少一个存储器；

所述可编程处理器运行至少一个硬件线程对所述至少一个存储器进行测试。

现有技术中，对存储器进行测试是通过软件线程实现的。具体来说，测试程序是承载在操作系统之上的应用程序。CPU需要先通过编译器将承载在操作系统之上的测试程序转化为计算机指令，然后再执行测试程序对应的计算机指令。因此，现有技术执行测试程序的效率较低。上述技术方案中，可编程处理器运行至少一个硬件线程，硬件线程可以直接调用计算机指令。因此，上述技术方案可以提升测试过程中对存储器进行访问能够达到的最大频率，进而提高测试程序的执行效率。

在所述第一方面提供的所述测试方法的第一种可能的实现方式中，所述可编程处理器运行至少一个硬件线程对所述至少一个存储器进行测试之前，所述方法还包括：

所述可编程处理器接收CPU发送的消息，所述消息包括所述至少一个硬件线程的标识和所述至少一个硬件线程对应的测试算法的标识，所述消息用于使所述可编程处理器运行所述至少一个硬件线程；

所述可编程处理器运行至少一个硬件线程对所述至少一个存储器进行测试包括：

所述至少一个硬件线程根据所述消息中的所述测试算法的标识运行所述测试算法对应的计算机指令对所述至少一个存储器进行测试。

根据所述第一方面提供的所述测试方法以及所述第一方面提供的所述测试方法的第一种可能的实现方式，在所述第一方面提供的所述测试方法的第二种可能的实现方式中，所述可编程处理器运行至少一个硬件线程对所述至少一个存储器进行测试包括：

所述可编程处理器并行运行多个硬件线程对多个存储器进行测试，所述多个硬件线程与所述多个存储器一一对应，所述可编程处理器为网络处理器、专用集成电路、数字信号处理器或者现场可编程门阵列，所述至少一个硬件线程为所述多个硬件线程，所述至少一个存储器为所述多个存储器。

根据所述第一方面提供的所述测试方法以及所述第一方面提供的所述测试方法的第一种可能的实现方式，在所述第一方面提供的所述测试方法的第三种可能的实现方式中，所述可编程处理器运行至少一个硬件线程对所述至少一个存储器进行测试包括：

所述可编程处理器并行运行多个硬件线程对存储器中的多个存储空间进行测试，所述多个硬件线程与所述多个存储空间一一对应，所述可编程处理器为网络处理器、专用集成电路、数字信号处理器或者现场可编程门阵列，所述至少一个硬件线程为所述多个硬件线程，所述至少一个存储器为所述存储器。

根据所述第一方面提供的所述测试方法的第二种可能的实现方式，在所述第一方面提供的所述测试方法的第四种可能的实现方式中，所述消息还包括所述多个硬件线程分别对应的所述多个存储器的标识；

所述可编程处理器运行至少一个硬件线程对所述至少一个存储器进行测试包括：

所述多个硬件线程根据所述消息中的所述测试算法的标识运行所述测试算法对应的计算机指令对所述多个存储器的标识所指示的所述多个存储器进行测试。

根据所述第一方面提供的所述测试方法的第三种可能的实现方式，在所述第一方面提供的所述测试方法的第五种可能的实现方式中，所述消息还包括所述多个硬件线程分别对应的所述多个存储空间的标识；

所述可编程处理器运行至少一个硬件线程对所述至少一个存储器进行测试包括：

所述多个硬件线程根据所述消息中的所述测试算法的标识运行所述测试算法对应的计算机指令对所述多个存储空间的标识所指示的所述多个存储空间进行测试。

根据所述第一方面提供的所述测试方法、所述第一方面提供的所述测试方法的第一种可能的实现方式、所述第一方面提供的所述测试方法的第二种可能的实现方式、所述第一方面提供的所述测试方法的第三种可能的实现方式、所述第一方面提供的所述测试方法的第四种可能的实现方式以及所述第一方面提供的所述测试方法的第五种可能的实现方式，在所述第一方面提供的所述测试方法的第五种可能的实现方式中，所述可编程处理器运行至少一个硬件线程对所述至少一个存储器进行测试具体包括：