[发明专利]用于测量透明材料的光学性质的仪器和方法

权利要求书

1.一种用于测量透明材料的光学性质的仪器，包括：

第一照明装置(2)，用于用预设的辐射沿预设的照明路径(P)照亮待研究的材料(10)；

辐射记录空间(4)，用于记录穿过所述待研究的材料(10)传递的辐射，其中所述辐射记录空间(4)设置为使得由所述第一照明装置(2)发射的辐射首先照射在所述材料(2)上然后至少一次照射在所述辐射记录空间(4)的内壁(42)上；

辐射探测器装置(12)，用于记录基本仅从所述辐射记录空间(4)的内壁(42)处被反射和/或散射的辐射；以及

第二照明装置(14)，用于照亮所述辐射记录空间(4)的内壁(42)，

其特征在于，所述第二照明装置(14)适用于发射经调制的辐射。

2.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，所述第一照明装置(2)适用于发射经调制的辐射。

3.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，所述仪器具有第二辐射探测器装置(6)，所述第二辐射探测器装置(6)沿所述照明路径(P)设置在所述待研究的材料(10)后，从而使得所述第二辐射探测器装置(6)记录沿所述照明路径(P)照射的辐射。

4.根据权利要求3所述的仪器，其特征在于，所述仪器具有可相对所述辐射记录空间移动以便遮盖所述第二辐射探测器装置(6)的遮盖装置。

5.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，所述两个照明装置(2、14)具有相似或基本相同的光谱图样。

6.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，所述第一照明装置(2)的照明和所述第二照明装置(14)的照明彼此耦合。

7.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，所述第一照明装置(2)和所述第二照明装置(14)具有共同的光源(24)。

8.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，所述第二照明装置(14)通过光导体(56)以光传导方式与光源(24)相连。

9.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，所述仪器具有第一脉冲产生装置(30)，所述第一脉冲产生装置(30)将从所述光源(24)发出的辐射转换为脉冲辐射。

10.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，所述第二照明装置(14)借助于调制器装置(62)被调制。

11.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，所述第二照明装置(14)不与所述第一照明装置(2)耦合。

12.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，所述第二照明装置(14)具有单独的照明源和/或单独的调制器。

13.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，至少一个所述照明源发射随时间恒定的光通量。

14.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，所述仪器(1)以及尤其至少一个所述照明装置具有用于测量所述照明源的照明特性的变化的装置。

15.根据权利要求1所述的仪器(1)，其特征在于，至少一个光源为发光二极管(24)或发光二极管的组合。

16.一种用于测量透明材料(10)的光学性质的方法，其中辐射通过第一照明装置沿预设的照明路径(P)照射到待研究的材料上，并且回应于所述照射辐射而经所述透明材料继续传递的辐射至少部分地和/或一次抵达辐射记录空间(4)的内壁处，并且由第一辐射探测器装置(12)记录基本仅从所述辐射记录空间(4)的内壁(42)处被反射和/或散射的辐射，其中所述辐射记录空间(4)的内壁(42)由能被打开的第二照明装置(14)照亮，其特征在于，所述第二照明装置(14)发射经调制的辐射。

17.根据权利要求16所述的方法，其特征在于，所述第一照明装置(2)和所述第二照明装置(14)至少部分地随时间彼此交错地发射辐射。