[发明专利]一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统

说明书

技术领域

本发明涉及电磁场的场均匀性的校准技术领域，特别涉及一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统。

背景技术

对于射频电磁场，IEC61000系列标准给出了两种电磁场的场均匀性的校准方法，即恒定场强校准法和恒定功率校准法。恒定场强校准法是通过调整前向输出功率建立一个场强恒定的均匀场，然后用一个经校准的场强探头以指定的步长在每个频段对待测区域内的各个点进行测量。恒定功率校准法与之不同的是测量时保持前向输出功率恒定。

对于瞬变电磁场，MIL-STD-461F标准采用了上述恒定场强校准法。但是，恒定场强校准法存在以下不足：

(1)瞬变电磁场由脉冲信号源触发的单脉冲信号产生，为了获得恒定的电磁场，需要反复调节脉冲信号源的输出功率，因此必须既可以准确监测所用脉冲信号源的输出功率，又可以对所用脉冲信号源的输出功率进行微调，对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求高；

(2)通常需要用高压探头监测脉冲信号源的输出功率，在实际应用中有时很难实现；

(3)校准时间较长，使用不方便。

对于瞬变电磁场，如果采用恒定功率校准法，也存在以下问题：

(1)需要脉冲信号源多次触发输出多个单脉冲信号，各个单脉冲信号的幅度很难完全保持一致，即存在脉冲信号源输出的各个单脉冲信号不稳定的问题，导致瞬变电磁场均匀性校准的准确度降低；

(2)对脉冲信号源输出稳定性的要求导致瞬变电磁场产生装置的成本较高。

用于校准瞬变电磁场的场均匀性的系统通常需要测试多个位置。校准瞬变电磁场的场均匀性时，不但需要支架支撑和固定测试探头，而且需要通过支架调节测试探头的位置和角度。具体地，校准瞬变电磁场的场均匀性时，通常需要通过调节支架来改变固定有探头的测试杆的角度和长度，甚至需要通过调节支架实现测试杆绕固定轴的转动。现有技术中的支架都不能直接实现上述功能，因此在用于校准瞬变电磁场的场均匀性时非常不便。

目前，非常需要一种对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置要求低、快速、准确且低成本的瞬变电磁场的场均匀性的校准系统。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统。

本发明提供的用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统包括支架、示波器和至少一个探头，所述支架包括支撑杆、安装座、旋转环、定位环、旋转盘、旋钮和测试杆，所述安装座设于所述支撑杆的顶端，所述定位环的一侧设有第一凸缘，所述第一凸缘的外径与所述旋转环的内径匹配，所述第一凸缘穿过所述旋转环与所述安装座固接，所述定位环的内周侧设有多个凹槽，所述定位环的中心设有至少一个连接键，每个所述连接键的一端与所述旋钮固接，每个所述连接键的另一端与定位键铰接，所述旋转盘的一侧设有外径小于所述定位环内径的第二凸缘，所述第二凸缘上设有与所述定位键配合的缺口，所述旋转盘的设有所述第二凸缘的一侧的中心设有转轴，所述第二凸缘从所述定位环的与所述第一凸缘相对的一侧穿进所述定位环，且所述定位键能够穿过所述缺口，所述旋钮安装于所述转轴上，且所述旋钮能够绕所述转轴转动，所述旋转环与所述旋转盘固接，所述测试杆固接于所述旋转盘的与所述第二凸缘相对的一侧，所述测试杆上设有至少一个探头固定装置，所述探头通过所述探头固定装置固定于所述测试杆上，所述探头与所述示波器电连接。

优选地，所述安装座呈圆环形且设有多个第一螺孔，所述第一凸缘上设有多个与所述第一螺孔配合的第二螺孔，所述定位环通过所述第一螺孔和所述第二螺孔与所述安装座固接。

优选地，所述旋转环设有多个第三螺孔，所述旋转盘上设有多个与所述第三螺孔配合的第四螺孔，所述旋转盘通过所述第三螺孔和所述第四螺孔与所述旋转环固接。

优选地，每个所述连接键的一端设有第五螺孔，所述旋钮上设有至少一个与所述第五螺孔配合的第六螺孔，所述连接键通过所述第五螺孔和所述第六螺孔与所述旋钮固接。

优选地，每个所述连接键的另一端设有不带螺纹的通孔，所述连接键通过所述通孔与所述定位键铰接。

优选地，所述支架还包括与支撑杆的底端固接的底座。

优选地，所述支撑杆的高度可调。

优选地，所述测试杆的长度可调。

优选地，所述探头固定装置设于所述测试杆的自由端和/或中间。

本发明具有如下有益效果：

(1)所述系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低，能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准；