[发明专利]集成测试系统上电复位装置

权利要求书

1.集成测试系统上电复位装置，其特征在于，它包括CPU控制芯片、PXIe接口模块、DDR2模块和电源模块；

CPU控制芯片，用于从Flash存储器中启动bootloader初始化CPU的各个寄存器；还用于读取DDR2模块的集成测试系统的各个外设模块的固定地址，并判断所述地址的值是否为预设定值，若否，向所述地址写入预设值，并将复位信号通过PXIe接口模块发送给集成测试系统的各个外设模块，若是，继续启动集成测试系统；

PXIe接口模块，用于连接CPU控制芯片与集成测试系统的各个外设模块互相通讯；

DDR2模块，用于存储可靠性复位判断标志信息；

电源模块，用于为CPU控制芯片、PXIe接口模块和DDR2模块提供工作电源。

2.根据权利要求1所述的集成测试系统上电复位装置，其特征在于，CPU控制芯片为飞思卡尔公司的型号为MPC8536芯片。

3.根据权利要求1所述的集成测试系统上电复位装置，其特征在于，PXIe接口模块包括PCIe交换芯片和PXIe连接器；PCIe交换芯片与CPU和PXIe连接器相连，完成CPU的PCIExpress总线到PXIe连接器的路由功能。

4.根据权利要求3所述的集成测试系统上电复位装置，其特征在于，PCIe交换芯片为PLX公司的PEX8624芯片。