[发明专利]阵列图形检测的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201210302723.8 申请日: 2012-08-23
公开(公告)号: CN102928434A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 许杰 申请(专利权)人: 深圳市纳研科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 深圳市中联专利代理有限公司 44274 代理人: 李俊
地址: 518026 广东省深圳市福田区深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 阵列 图形 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种阵列图形检测的方法,其特征在于,包括:

根据预设的图形几何参数,提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征;

判断所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征是否一致,若是,则存储当前帧中的阵列图形;

若否,则将当前帧中的所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比,根据对比结果输出缺陷位置。

2.如权利要求1所述的阵列图形检测的方法,其特征在于,在执行所述根据预设的图形几何参数,提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征之前,还包括:

根据阵列图形的速度和准确性要求,设定用于与当前帧中阵列图形进行比较的图形几何参数。

3.如权利要求2所述的阵列图形检测的方法,其特征在于,当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征一致时:

判定所述当前帧为正常帧,存储当前帧中的阵列图形,作为用于与存在缺陷的阵列图形比较的比较图形。

4.如权利要求1至3中任一项所述的阵列图形检测的方法,其特征在于,当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征不一致时:

判定所述当前帧的阵列图形存在缺陷,将所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比;

根据对比结果,提取出缺陷位置在所述阵列图形中的位置;

输出所述缺陷位置。

(加装置不会缩小专利的保护范围)。

5.一种阵列图形检测的装置,其特征在于,包括:

提取模块,用于根据预设的图形几何参数,提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征;

判断模块,用于判断所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征是否一致; 

存储模块,用于若是,则存储当前帧中的阵列图形;

对比及输出模块,用于若否,则将当前帧中的所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比,根据对比结果输出缺陷位置。

6.如权利要求5所述的阵列图形检测的装置,其特征在于,还包括:

设定模块,用于根据阵列图形的速度和准确性要求,设定用于与当前帧中阵列图形进行比较的图形几何参数。

7.如权利要求6所述的阵列图形检测的装置,其特征在于,所述存储模块用于:

当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征一致时,判定所述当前帧为正常帧,存储当前帧中的阵列图形,作为用于与存在缺陷的阵列图形比较的比较图形。

8.如权利要求5至7中任一项所述的阵列图形检测的装置,其特征在于,所述对比及输出模块包括:

对比单元,用于当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征不一致时,判定所述当前帧的阵列图形存在缺陷,将所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比;

提取单元,用于根据对比结果,提取出缺陷位置在所述阵列图形中的位置;

输出单元,用于输出所述缺陷位置。 

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