[发明专利]光拾取器装置及光盘装置

权利要求书

1.一种光拾取器装置，其特征在于，包括：

射出光束的半导体激光器；

用于将从所述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘的物镜；

对从所述光盘反射的光束进行分光的分光元件；和

具有多个接受通过所述分光元件分光的光束的受光面的光检测器，其中，

所述分光元件具有区域A、区域B、和区域C这三个区域，

所述分光元件的区域C是含有所述分光元件的中心的区域，

所述分光元件的区域A相对于区域C在与所述光盘上的轨道对应的方向上离开，

所述分光元件的区域B相对于区域C在所述光盘的半径方向上离开，

被所述光盘反射的光束，透过所述物镜入射到所述分光元件，光束被所述分光元件分割，按各区域分别在不同的方向行进，在所述光检测器上聚焦，

在所述光检测器中，从在所述区域A、B、C衍射的光束检测出再现信号，

对在所述分光元件的区域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对应所述光盘的轨道的方向大体平行的方向上。

2.根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于：

对在所述分光元件的区域A衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的受光面为4个受光面。

3.根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于：

对在所述分光元件的区域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的受光面为4个受光面。

4.根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于：

通过在所述分光元件的区域B衍射的-1次衍射光检测出聚焦误差信号，

通过在所述分光元件的区域A、B衍射的+1次衍射光检测出跟踪误差信号，

通过在所述分光元件的区域A衍射的-1次衍射光检测出跟踪误差信号的偏移量修正信号，

通过在所述区域A、B、C衍射的+1次衍射光的和检测出再现信号。

5.根据权利要求1所述的光拾取器装置，其特征在于：

对在所述分光元件的区域C衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的受光面是一个受光面。

6.一种光拾取器装置，其特征在于，包括：

射出光束的半导体激光器；

用于将从所述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘的物镜；

对从所述光盘反射的光束进行分光的分光元件；和

具有多个接受通过所述分光元件分光的光束的受光面的光检测器，其中，

所述分光元件具有区域A、区域B、和区域C这三个区域，

所述分光元件的区域C是含有所述分光元件的中心的区域，

所述分光元件的区域A相对于区域C在与所述光盘上的轨道对应的方向上离开，

所述分光元件的区域B相对于区域C在所述光盘的半径方向上离开，

被所述光盘反射的光束，透过所述物镜入射到所述分光元件，光束被所述分光元件分割，按各区域分别在不同的方向行进，在所述光检测器上聚焦，

在所述光检测器中，从在所述区域A、B、C衍射的光束检测出再现信号，

对在所述分光元件的区域A衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对应所述光盘的轨道的方向大体垂直的方向上，

并且对在所述分光元件的区域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对应所述光盘的轨道方向大体平行的方向上。

7.根据权利要求7所述的光拾取器装置，其特征在于：

对在所述分光元件的区域A衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的受光面为4个受光面。

8.根据权利要求6所述的光拾取器装置，其特征在于：

对在所述分光元件的区域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的受光面为4个受光面。

9.根据权利要求6所述的光拾取器装置，其特征在于：

通过在所述分光元件的区域B衍射的-1次衍射光检测出聚焦误差信号，

通过在所述分光元件的区域A、B衍射的+1次衍射光检测出跟踪误差信号，

通过在所述分光元件的区域A衍射的-1次衍射光检测出跟踪误差信号的偏移量修正信号，

通过在所述区域A、B、C衍射的+1次衍射光的和检测出生成再现信号。