[发明专利]光伏组件测试仪校准方法有效

专利信息
申请号: 201210292141.6 申请日: 2012-08-16
公开(公告)号: CN102854483A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 李志伟 申请(专利权)人: 常州天合光能有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 王凌霄
地址: 213031 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 组件 测试仪 校准 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种光伏组件测试仪校准方法。

背景技术

目前光伏行业中各种组件测试仪大多支持短路电流校准及功率校准(即效率校准)两种校准方式。同时许多组件厂拥有不止一家厂商的组件测试仪,不同的软硬件结构对测试的结果会造成较大差别。不同校准方法及不同厂商的组件测试仪给希望统一测试标准的工厂势必带来很大的困扰。

理论上不允许标准件本身存在电性能的损失,避免校准后对组件测试功率产生虚高的影响。但是在实际的光伏行业生产中光伏标准组件在多次使用后电性参数会造成一定衰减,多次使用过程中的搬动也会对标准组件造成物理损伤,此两者均使得标准件不再稳定,使按照简单的短路电流校准或者功率校准的组件测试仪进行组件功率测试时测试数据存在偏差。

如对标准组件做短期使用后的更换,则会带来以下问题:组件测试仪的厂商一般承诺稳定性在+/-3%,测试机标定出来的标准组件之间或者标准组件批次之间差异明显,频繁的更换并不能保证测试水平的稳定性,工厂也难以把握真实的制程能力。同时标准组件制作周期和标准组件本身的成本也会对此种简单解决方法在实际应用中无法实施。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是:提供一种光伏组件测试仪校准方法,降低标准组件衰减、损伤以及组件测试仪异常,以及组件测试仪差别对组件测试功率的影响。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种光伏组件测试仪校准方法,组件测试仪以可确定电性能未变化的标准组件进行首次校准,首次校准采用功率校准方式,并确定影响填充值的机台参数;在组件测试仪的后续校准中,按照首次校准时确定的影响填充值的机台参数,采用短路电流校准方式校准;在采用短路电流校准方式校准时如果发现填充值存在异常变化,并且填充值的异常变化是由标准组件本身参数变化导致,则后续依然采用短路电流校准方式校准;如果填充值的异常变化不是由标准组件本身参数变化导致,则排查、修正组件测试仪的状态;或者采用功率校准方式,并重新确定影响填充值的机台参数,在组件测试仪的后续校准中,按照这次校准时确定的影响填充值的机台参数,采用短路电流校准方式校准。

在发现填充值存在异常变化时,判断是否是由标准组件本身参数变化导致的多种判断方法中的其中一种是:准备一块备用标准组件,使用校准后的组件测试仪测试备用标准组件,如果填充值的异常变化消失,则判断是由常用标准组件本身参数变化导致;如果填充值和常用标准组件的填充值一样异常变化,则判断是由组件测试仪状态异常导致。

为准确的判断填充值是否存在异常变化,进一步限定在组件测试仪的后续校准中,如果填充值超出标准组件的标称填充值+/-a%的范围,则可认为填充值发生异常变化,a为常数,可根据校准精度需求调整a的值。

为更好地保证组件测试仪校准的校准精度,常数a的取值范围为0.2~0.4,优选a的值为0.2,a值越大,功率波动范围越大,不利于测试仪稳定性。

本发明的有益效果是:降低了不同组件测试仪对组件测试功率的影响,同时削弱了标准组件衰减、损伤,以及组件测试仪异常对组件测试功率的影响,避免了频繁更换标准组件带来的组件测试功率的波动。

附图说明

图1是本发明的校准流程图;

具体实施方式

在6A级组件测试仪上多次验证实验显示:标准组件在多次使用及搬运造成轻微损伤后首先损失的电性能参数是填充值,而其他例如短路电流和开路电压因此原因而造成的影响较小,若标准组件存在严重损伤电流也会有明显的下降。

因此如图1所示,光伏组件测试仪校准方法为:工厂使用的各种不同的组件测试仪以可确定电性能未变化的标准组件如未使用过的新的标准组件进行首次校准,首次校准采用功率校准方式,在校准时将短路电流、填充值均校准到标定中心值,并确定影响填充值的机台参数,不同厂商的组件测试仪影响填充值的机台参数都不尽相同:例SPIRE组件测试仪的影响填充值的机台参数是I-Stretch和V-Stretch,Nisshinbo组件测试仪的影响填充值的机台参数是Rs和K,可根据组件测试仪的说明文件,或根据实际使用情况获知。

本次校准将短路电流校准到中心值体现了对组件测试仪光强的校准。填充值校准反映了对组件测试仪测试曲线特性的合理修正,后续测试数据才能够正确反映组件功率。

在组件测试仪的后续校准中,按照首次校准时确定的影响填充值的机台参数,采用短路电流校准方式校准;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州天合光能有限公司,未经常州天合光能有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210292141.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top