[发明专利]用于光学测量谷物和类似农作物的粒子的设备和方法

权利要求书

1.一种用于光学分析农作物的粒子的质量的设备，包括：

进料器，其被设置成将包括至少一个粒子的粒子试样供给到用于光学测量的位置，

光学系统，其适于照射处在用于光学测量的所述位置处的所述粒子试样的单个粒子以及适于在照射光与所照射的单个粒子的表面相互作用之后探测照射光，以及

分析仪，其适于接收所探测到的照射光并对其进行处理，以确定所述粒子试样的质量，其中所述分析仪适于处理所探测到的照射光以生成所述粒子试样的单个粒子的三维表面信息，以及分析所述三维表面信息来确定质量。

2.如权利要求1所述的设备，其中所述光学系统包括部件，所述部件相对地设置成进行照射以及探测照射光来进行处理以生成同一个单个粒子的二维图像信息；且所述设备的特征在于：所述分析仪适于分析所述同一个单个粒子的所述三维表面信息以及二维图像信息以确定质量。

3.如权利要求2所述的设备，其中所述分析仪适于将来自同一个单个粒子的表面的相同物理区域的所述二维图像信息和所述三维表面信息进行比较，以确定质量。

4.如权利要求2所述的设备，其中所述分析仪适于通过将所述三维表面信息映射到所述二维图像上来处理同一个单个粒子的所述三维表面信息和所述二维图像信息，以生成用于分析的组合的形貌图像来确定质量。

5.如权利要求1所述的设备，其中所述光学系统包括：

激光光源，其设置成沿着横向于所述粒子试样的移动方向的线来照射所述粒子试样；以及

探测装置，其包括探测器，所述探测器被设置成探测沿着所述线的被从所述粒子试样的单个粒子的表面反射的照射光；且所述设备的特征在于所述分析仪适于分析所探测到的经反射的照射光，以确定所述粒子试样的所述单个粒子沿着所述线的高度轮廓，并适于基于所述粒子在所述移动方向通过所述线时多个按上述方式确定的、所述单个粒子的高度轮廓来生成三维表面信息。

6.如权利要求1所述的设备，其中所述分析仪适于通过比较所述单个粒子的表面与平面之间的距离来将高度轮廓确定为所述三维表面信息。

7.一种用于光学分析谷物的粒子的质量的方法，包括下列步骤：

将包括至少一个粒子的粒子试样供给到用于光学测量的位置，

照射处于所述用于光学测量的位置处的所述粒子试样，

在照射光与所述粒子试样相互作用之后，探测所述照射光，

分析所探测到的照射光以确定所述粒子试样的质量，所述方法的特征在于，所述分析步骤包括处理所探测到的照射光，以生成所述粒子试样的单个粒子的三维表面信息，以及

根据对所述三维表面信息的分析来确定所述粒子试样的质量。

8.如权利要求7所述的方法，其中处理所探测到的照射光的步骤还生成同一个单个粒子的二维图像信息；且所述方法的特征在于确定所述粒子试样的质量的步骤包括结合所述二维图像信息来分析所述三维表面信息。