[发明专利]振荡装置

说明书

技术领域

本发明涉及检测放置晶体振子的温度并基于温度检测结果进行输出频率的温度补偿的振荡装置。

背景技术

在晶体振荡器装入要求非常高的频率稳定性的应用的情况下，通常，一般使用OCXO，但OCXO为大规模的装置，消耗电力大。因此，研究利用结构简单且消耗电力少的TCXO，但TCXO存在相对于温度的频率稳定性比OCXO差的缺点。

图19表示TCXO的一般的结构。90为晶体振子，91为振荡电路，通过改变从控制电压产生部93供给到电压可变电容元件92的控制电压，而控制电压可变电容元件92的电容并调节振荡频率（输出频率）

晶体振子90的频率根据温度进行变化，因此，控制电压产生部93根据由温度检测器94检测出的温度校正控制电压。具体地讲，在存储器95存储将晶体振子90的频率温度特性以基准温度进行标准化后得到的函数即例如三次函数，基于该函数（频率温度特性）读出与温度检测值对应的频率。即，读出那时的温度时（下）的频率相对于基准温度时的频率偏差多少程度，将与该频率的偏差量对应的控制电压作为温度补偿量，并从与基准温度时的频率对应的控制电压减去。

但是，当进行精确的温度校正控制时，规定频率温度特性的函数的数据量变大，作为存储器95需要大容量，因此变得高价。另外，通常使用热敏电阻作为温度检测器，因此，即使增大上述数据量，由于温度检测器的检测精度的限制，也不能够期待频率精度的提高。

另外，温度检测器94和晶体振子90的配置位置不同，因此，不能够精确地得到晶体振子90的实际温度信息，因此，从这点出发，也不能够期待频率精度的提高。

专利文献1的图2和图3中，记载有：在共用的晶体片（石英片）设置两对电极构成两个晶体振子（晶体谐振器）。另外，在段落0018中记载有：根据温度变化，在两个晶体振子之间出现频率差，因此测量该频率差等同于测量温度。而且，在ROM存储有该频率差Δf与要校正的频率的量的关系，可基于Δf读出频率校正量。

但是，如段落0019所记载，该方法具有如下课题：对于希望的输出频率f0和两个晶体振子各自的频率f1、f2，需要进行晶体振子的调节，使得f0≈f1≈f2的关系成立，因此晶体振子的制造工序变得复杂，并且，不能得到高的成品率。另外，如图4所示，在一定时间对来自各晶体振子的频率信号即时钟进行计数并求得其差（f1－f2），因此检测精度受到检测时间的直接影响，高精度的温度补偿是困难的。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2001－292030号公报

发明内容

本发明是鉴于这种情况而研发的，其目的在于，提供一种技术，能够在振荡装置中抑制规定用于校正由于环境温度与基准温度不同而引起的振荡频率的变动的函数的数据量，减小存储该数据的存储器的容量。

本发明的种振荡装置是基于环境温度的检测结果，校正用于设定输出频率的设定信号的振荡装置，其特征在于，具备：

在晶体片（石英片）设置第一电极而构成的第一晶体振子；

在晶体片设置第二电极而构成的第二晶体振子；

与这些第一晶体振子和第二晶体振子分别连接的第一振荡电路和第二振荡电路；

频率差检测部，当将第一振荡电路的振荡频率设为f1，将基准温度时的第一振荡电路的振荡频率设为f1r，将第二振荡电路的振荡频率设为f2，将基准温度时（下）的第二振荡电路的振荡频率设为f2r时，上述频率差检测部求出与f1与f1r的差所对应的值和f2与f2r的差所对应的值的差值对应的差对应值；和

校正值取得部，其基于由该频率差检测部检测出的上述差对应值x，取得由于环境温度与基准温度不同而引起的f1的频率校正值，其中，

A）当将为了减小多项式的系数而导入的装置固有的除法系数设为k时，上述校正值取得部具备通过对于作为与x／k相当的值的X运算n次多项式而求出f1的频率校正值的功能，其中，n为4以上，

B）上述除法系数k是根据在测量温度范围预先检测出的上述差对应值的最大值而预先设定的值，

C）振荡装置的输出利用上述第一振荡电路的输出而生成，

D）基于由上述校正值取得部求出的上述频率校正值，校正上述设定信号。

上述校正值取得部例如具备：

乘法部；

该乘法部的输出除以上述除法系数k的除法部；

将该除法部的输出与上述多项式的定数依次累计的累计部；