[发明专利]一种厚度一致的氧化膜形成技术有效
申请号: | 201210278802.X | 申请日: | 2012-08-07 |
公开(公告)号: | CN103572350A | 公开(公告)日: | 2014-02-12 |
发明(设计)人: | 吕林兴;刘健;李露;黄奎;熊远根 | 申请(专利权)人: | 中国振华(集团)新云电子元器件有限责任公司 |
主分类号: | C25D11/26 | 分类号: | C25D11/26 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王朋飞 |
地址: | 550018 贵州省*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 厚度 一致 氧化 形成 技术 | ||
1.一种厚度一致的氧化膜形成技术,其特征在于:它包括以下步骤:
(1)将经过烧结的钽阳极块均匀地点焊在导电金属条上,然后将导电金属条依次安放在支架上;
(2)将安放好导电金属条的支架放入电解槽中,电解槽中预先盛满配置放的电解液;
(3)用导线制作一个“王”字形导线框,电线框的大小与支架大小相当,“王”字导线框的中心位置即为电源接线点;
(4)将“王”字导线框重叠放置在支架上并与点焊有钽阳极块的金属条紧密接触;
(5)将电源正极接到“王”字导线框的中心位置,电源负极与电解槽连接;
(6)接通电源后进行介质膜形成处理。
2.根据权利要求1所述的厚度一致的氧化膜形成技术,其特征在于:所述的电解液为体积浓度为0.1%的磷酸溶液。
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