[发明专利]一种光学谐振频率差精确测量装置及其方法无效
| 申请号: | 201210274650.6 | 申请日: | 2012-08-03 |
| 公开(公告)号: | CN102818695A | 公开(公告)日: | 2012-12-12 |
| 发明(设计)人: | 刘庆文;何祖源 | 申请(专利权)人: | 无锡联河光子技术有限公司 |
| 主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 楼高潮 |
| 地址: | 214135 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 光学 谐振 频率 精确 测量 装置 及其 方法 | ||
1.一种光学谐振频率差精确测量装置,其特征在于:包括激光器、信号发生器、强度调制器、分光束器、一对谐振器、光强度信号转换装置和位相解调器;所述激光器产生的激光根据信号发生器的信号经强度调制器强度调制后,再经分光束器产生一对光学边带信号,分别进入一对谐振器,所述谐振器的反射光经光强度信号转换装置转换成强度信号,再由位相解调器解调。
2.根据权利要求1所述的一种光学谐振频率差精确测量装置,其特征在于:所述谐振器为法布里-泊罗干涉仪。
3.根据权利要求1所述的一种光学谐振频率差精确测量装置,其特征在于:所述位相解调器为I/Q正交解调芯片。
4.一种光学谐振频率差精确测量方法,采用边带调制技术来精确测量和比较谐振器的谐振频率,其特征是:边带由强度调制器产生,每一组边带都有三个具有固定位相和强度关系的成分,两组边带分别用于探测不同谐振器的谐振频率,并用位相解调器解调。
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