[发明专利]内场天线测量系统信号传递环节建模方法无效
| 申请号: | 201210273813.9 | 申请日: | 2012-08-02 |
| 公开(公告)号: | CN102798778A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
| 发明(设计)人: | 张麟兮;郭静远;宋鹏;张曼;张颖军;张琦;魏世京 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 王鲜凯 |
| 地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 内场 天线 测量 系统 信号 传递 环节 建模 方法 | ||
技术领域
本发明属于信号处理领域,具体涉及一种内场天线测试系统信号传递建模和分析的方法。运用于天线参数测量中,可以很好的提高天线参数测量精度。
背景技术
天线是发射和接收电磁波的一个重要无线电设备,在不同的应用场合有着其严格的指标要求,因此精确测量必不可少。文献《天线测量手册》(国防工业出版社)介绍微波暗室可以为天线提供良好的测试平台,通过合理地布置吸波材料,不仅能避免外界电磁干扰的影响,还可以显著的降低室内背景反射电平,减小了环境因素对天线测试的影响,较好地模拟了自由空间测试条件。但当吸波材料的性能不够理想时,来自侧壁、后墙的多径干扰信号会影响测试精度,尤其对一些高增益、低副瓣天线而言,会产生很大的影响。参照图1所示,高的主瓣波束在指向侧壁时形成的强反射会抬高副瓣幅度,这种影响产生的多径干扰会更加的严重。
发明内容
为了克服天线测试中,多径效应对测试精度的影响,本发明利用数学建模的思想,提出一种微波暗室内多径干扰的建模方法;通过对直达波与多径干扰进行数学建模,分析天线测试过程中信号幅度和相位的传递关系,可以得到多径干扰对天线测试过程中的影响,为抑制和消除多径干扰,提供了分析的理论基础。
技术方案
步骤1:参照图2所示,选择被测天线为发射天线,放置在转台上。选择辅助天线为接收天线。发射天线与接收天线均通过电缆与矢量网络分析仪相连。
步骤2:矢量网络分析仪发射的功率为Pt,电缆1的损耗为L1,发射天线的入射功率为Pin,矢量网络分析仪的接收功率为Pr,辅助天线的接收功率为Pout,回波功率为Pre,电缆2的损耗为L2。发射天线在最大辐射方向上的增益系数为Gt,归一化功率方向图为其中(θ,φ)为球坐标方位角,θ为水平面角,φ为俯仰角,发射天线与接收天线相距d,接收天线最大接收方向上的增益为Gr。将测试系统中电缆1、待测天线、自由空间、辅助天线、电缆2视为一个二端口网络,传输系数也即矢量网络分析仪的测试值用S21表示。建立微波暗室内的天线测量系统幅度传递关系模型:
参照图3所示,在天线测量系统中,频域响应S21的相位主要包括电缆中的相移和自由空间的相移待测天线与辅助天线引入的相移和以及天线与电缆之间的接头形成的相移和矢量网络分析仪与电缆之间的接头形成的相移因此频域响应S21的相位可表示为:
令收发天线间的直线距离为d,电缆1长为l1,电缆2长为l2,自由空间信号波长为λ,电缆中信号的相波长为λg,电缆介电常数εr,将测量系统相移和用表示。建立微波暗室内的天线测量系统相位传递关系模型:
步骤3:参照图4所示,在微波暗室内测量天线时,频域响应中除直达信号外还包含有多径干扰,令收发天线间的直线距离为d,多径干扰经过的路程为r。根据步骤1)和步骤2),建立微波暗室内的天线测量系统中的直达信号与多径干扰综合模型:
有益效果
通过分析了内场天线测量系统信号幅度与相位的传递关系,最终完成了对直达波与多径干扰的数学建模,为以后抑制和消除多径干扰,提供了理论基础,从而可以得到更为精确的天线测试数据。
附图说明
图1是本发明方法中微波暗室内多径干扰示意图。
图2是本发明方法中天线测量的信号流程图。
图3是本发明方法中天线测量的系统相位传递示意图。
图4是本发明方法中天线测量的直达信号与多径干扰建模示意图。
具体实施方式
现结合实施步骤、附图对本发明作进一步描述:
1)微波暗室内天线测试的信号流程参照图2所示,选择被测天线为发射天线,辅助天线为接收天线,发射天线与接收天线均通过电缆与矢量网络分析仪相连。在测量过程中,首先由矢量网络分析仪发射扫频信号,经过馈线(电缆1)由放置于转台上的被测天线发射出去,经过自由空间的传播,辅助天线接收到的信号经过馈线(电缆2)又回到矢量网络分析仪。
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