[发明专利]基于回波损耗补偿的窄带天线测试方法

说明书

技术领域

本发明属于天线测试领域，具体涉及一种利用回波损耗补偿技术在窄带天线测试中消除多径干扰信号，提高测量天线参数（包括方向图和增益、以及其它参数）精度的使用方法。

背景技术

衡量一付天线的实际辐射性能，需通过精确的测量。测试环境中（室外开阔场和微波暗室）存在多径干扰，在常规的间接时域测量中，通常采用加时域门的方法去除干扰。这需要有足够的测试带宽，以获得高的距离分辨率。然而，对于窄带天线，特别是低频段天线，其工作带宽窄，对应的距离分辨率难以优于10米量级。当多径信号与直射波的波程差小于距离分辨率时，其响应在时间（距离）域上相互重叠，不能明确区分和分辨。这种情况下时域加门技术不能有效去除干扰，难以获得高的测量精度。而且在低频段暗室内吸波材料的性能下降，使得暗室侧壁、地面等的多径干扰更严重，测试误差不能满足要求。

微波暗室在300MHz以下频段，其静区性能难以优于-30dB，侧壁的多径反射增强，导致天线方向图的测试精度难以达到±1.5dB；100MHz以下频段恶化到±2dB以上。在外场测试时，由于外部环境的不可控，多径干扰更加严重。通常天线的工作带宽通常取反射系数小于-10dB（即驻波比小于2）时的频带范围。对于工作带宽小于30MHz的天线，其距离分辨率大于10m，无法通过加时域们去除干扰。

发明内容

为了避免现有技术的不足之处，本发明提出一种基于回波损耗补偿的窄带天线测试方法，拓展被测天线的测试带宽。

技术方案

一种基于回波损耗补偿的窄带天线测试方法，其特征在于步骤如下：

步骤1：搭建天线测试系统：发射端的辅助天线与测试端的被测天线位于同一高度，且位于同一轴线；

步骤2：测试被测天线的反射系数Γ(f)；

步骤3：根据测试场地的情况，算出要消除代表第m条多径的多径波R_m和直射波R₀的最小波程差Δd＝min(R_m-R₀)（m），得到测试天线所需的扫频带宽由

（1）式检验天线测试系统能否满足保精度的测试灵敏度要求；

[pr(f)]dB=[pt(f)]dB+[Γ(f)]dB+[Gr(f)]dB+[L(f)]dB+[Gt(f)]dB[pt(f)]dB≥pr(min)---(1)]]>