[发明专利]光学位移侦测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201210273424.6 申请日: 2012-08-02
公开(公告)号: CN103576909A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 王彦章;陈俊玮 申请(专利权)人: 原相科技股份有限公司
主分类号: G06F3/0354 分类号: G06F3/0354
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 陈肖梅;谢丽娜
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 光学 位移 侦测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光学位移侦测装置,其特征在于,包含:

一光源,投射一探照光至一待测表面;

一影像撷取单元,其根据从该待测表面反射的光线,以产生一影像讯号;以及

一处理单元,根据该影像讯号,产生一曝光状态值与一影像特征值,并根据一初始曝光范围、该曝光状态值与该影像特征值,以决定一曝光范围。

2.如权利要求1所述的光学位移侦测装置,其中,该处理单元根据以下情况,决定该曝光范围:

(1)当该初始曝光范围为高曝光范围,且该曝光状态值低于一状态默认值或该影像特征值高于一特征默认值时,该处理单元决定该曝光范围为一低曝光范围;

(2)当该初始曝光范围为高曝光范围,且该曝光状态值不低于该状态默认值且该影像特征值不高于该特征默认值时,该处理单元决定该曝光范围为该高曝光范围;

(3)当该初始曝光范围为低曝光范围,且该曝光状态值高于该状态默认值且该影像特征值低于该特征默认值,该处理单元决定该曝光范围为该高曝光范围;

(4)当该初始曝光范围为低曝光范围,且该曝光状态值不高于该状态默认值或该影像特征值不低于该特征默认值,该处理单元决定该曝光范围为该低曝光范围。

3.如权利要求1所述的光学位移侦测装置,其中,该处理单元根据以下情况,决定该曝光范围:

(1)当该初始曝光范围为高曝光范围,且该曝光状态值低于一第二状态默认值或该影像特征值高于一特征默认值时,该处理单元决定该曝光范围为一低曝光范围;

(2)当该初始曝光范围为高曝光范围,且该曝光状态值不低于该第二状态默认值且该影像特征值不高于该特征默认值时,该处理单元根据以下情况(3)或(4)的情况,决定该曝光范围;

(3)当前述情况(2)发生,或该初始曝光范围为低曝光范围,且该曝光状态值高于一第一状态默认值且该影像特征值低于该特征默认值时,该处理单元决定该曝光范围为该高曝光范围;

(4)当前述情况(2)发生,或该初始曝光范围为低曝光范围,且该曝光状态值不高于该第一状态默认值或该影像特征值不低于该特征默认值时,该处理单元决定该曝光范围为该低曝光范围。

4.如权利要求1所述的光学位移侦测装置,其中,该处理单元根据以下情况,决定该曝光范围:

(1)当该初始曝光范围为高曝光范围,且该曝光状态值低于一状态默认值或该影像特征值高于一第二特征默认值时,该处理单元决定该曝光范围为一低曝光范围;

(2)当该初始曝光范围为高曝光范围,且该曝光状态值不低于该状态默认值且该影像特征值不高于该第二特征默认值时,该处理单元根据以下(3)或(4)的情况,决定该曝光范围;

(3)当前述情况(2)发生,或该初始曝光范围为低曝光范围,且该曝光状态值高于该状态默认值且该影像特征值低于一第一特征默认值时,该处理单元决定该曝光范围为该高曝光范围;

(4)当前述情况(2)发生,或该初始曝光范围为低曝光范围,且该曝光状态值不高于该状态默认值或该影像特征值不低于该第一特征默认值时,该处理单元决定该曝光范围为该低曝光范围。

5.如权利要求1所述的光学位移侦测装置,其中,该处理单元根据以下情况,决定该曝光范围:

(1)当该初始曝光范围为高曝光范围,且该曝光状态值低于一第二状态默认值或该影像特征值高于一第二特征默认值时,该处理单元决定该曝光范围为一低曝光范围;

(2)当该初始曝光范围为高曝光范围,且该曝光状态值不低于该第二状态默认值且该影像特征值不高于该第二特征默认值时,该处理单元根据以下(3)或(4)的情况,决定该曝光范围;

(3)当前述情况(2)发生,或该初始曝光范围为低曝光范围,且该曝光状态值高于一第一状态默认值且该影像特征值低于一第一特征默认值时,该处理单元决定该曝光范围为该高曝光范围;

(4)当前述情况(2)发生,或该初始曝光范围为低曝光范围,且该曝光状态值不高于该第一状态默认值或该影像特征值不低于该第一特征默认值时,该处理单元决定该曝光范围为该低曝光范围。

6.如权利要求1所述的光学位移侦测装置,其中,该处理单元根据该曝光范围,以调整该影像讯号,进而决定该光学位移侦测装置的位移。

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