[发明专利]一维光子晶体双棱镜缺陷色散分离器

权利要求书

1.一种一维光子晶体双棱镜缺陷色散分离器，其特征在于，入射光束经过聚焦棱镜（1）聚焦后，通过共焦扩束棱镜（2）扩束后投射一维光子晶体表面，经过高低折射率周期介质层（3）、双棱镜缺陷层（4）和高低折射率周期介质层（5）色散分离后，投射到探测器（6）上形成精细的光谱结构。

2.根据权利要求1所述的一维光子晶体双棱镜缺陷色散分离器，其特征在于，该晶体的结构是一个膜系，膜系中各膜层排列如下：

(AB)^NCD(BA)^N

其中， A为低折射率膜层，B为高折射率膜层，A和B的光学厚度为一维光子晶体光子禁带中心波长的四分之一，N为高低折射率周期介质层的周期数，C、D为双棱镜缺陷层。

3.根据权利要求1或2所述的一维光子晶体双棱镜缺陷色散分离器，其特征在于，其特征是膜系中的A的折射率用n_a=1.38(MgF₂)，厚度用d_a=328.6nm ，B的折射率用n_b=2.35(ZnS)，厚度用d_b=193nm，高低折射率周期介质层的周期数N=6。

4.根据权利要求1或2所述的一维光子晶体双棱镜缺陷色散分离器，其特征在于，缺陷层采用双棱镜C、D缺陷层，C、D的几何结构相同，最大厚度为385.2nm 棱镜顶角为а=0.1rad，C的折射率n_c=1.57, D的折射率n_d=2.8。