[发明专利]一种基于Sigmoid扩展的指纹分数融合系统及方法有效
申请号: | 201210264203.2 | 申请日: | 2012-07-27 |
公开(公告)号: | CN102819754A | 公开(公告)日: | 2012-12-12 |
发明(设计)人: | 田捷;臧亚丽;杨鑫 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所 |
主分类号: | G06K9/66 | 分类号: | G06K9/66 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 sigmoid 扩展 指纹 分数 融合 系统 方法 | ||
1.一种基于Sigmoid扩展的指纹分数融合系统,其特征在于,包括:
训练图像预处理单元(1),用于对训练指纹数据集中的每一个训练指纹图像对分别进行预处理,分别获得训练指纹图像对的细化指纹图像和指纹方向场图像;
训练特征提取单元(2),与训练图像预处理单元(1)连接,用于从训练图像预处理单元(1)输出的训练指纹图像对的细化指纹图像中提取指纹细节点信息,并从训练图像预处理单元(1)输出的训练指纹图像对的指纹方向场图像中为每一个指纹细节点提取细节点局部方向描述;
训练特征对准单元(3),与训练特征提取单元(2)连接,用于对训练特征提取单元(2)输出的训练指纹图像对的指纹细节点信息、细节点局部方向描述和指纹方向场图像进行计算,得到训练指纹图像对的细节点平均相似度分数和方向场平均距离分数;
Sigmoid参数训练单元(4),与训练特征对准单元(3)连接,用于对训练特征对准单元(3)输出的训练指纹图像对的细节点平均相似度分数和方向场平均距离分数进行计算,分别得到细节点平均相似度分数和方向场平均距离分数的Sigmoid扩展参数;
测试图像预处理单元(5),用于对测试指纹图像对分别做预处理,分别获得测试指纹图像对的细化指纹图像和指纹方向场图像;
测试特征提取单元(6),与测试图像预处理单元(5)连接,用于从测试图像预处理单元(5)输出的测试指纹图像对的细化指纹图像中提取指纹细节点信息,并从测试图像预处理单元(5)输出的测试指纹图像对的指纹方向场图像中为每一个指纹细节点提取细节点局部方向描述;
测试特征对准单元(7),与测试特征提取单元(6)连接,用于对测试特征提取单元(6)输出的测试指纹图像对的指纹细节点信息、细节点局部方向描述和指纹方向场图像进行计算,得到测试指纹图像对的细节点平均相似度分数和方向场平均距离分数;以及
分数融合单元(8),与测试特征对准单元(7)及Sigmoid参数训练单元(4)连接,用于利用Sigmoid参数训练单元(4)输出的细节点平均相似度分数的Sigmoid扩展参数对测试特征对准单元(7)输出的测试指纹图像对的细节点平均相似度分数进行Sigmoid扩展,并利用Sigmoid参数训练单元(4)输出的方向场平均距离分数的Sigmoid扩展参数对测试特征对准单元(7)输出的测试指纹图像对的方向场平均距离分数进行Sigmoid扩展;然后将扩展后的两个分数融合在一起,得到最终匹配分数,从而判断测试指纹图像对是否来源于同一个手指。
2.根据权利要求1所述的基于Sigmoid扩展的指纹分数融合系统,其特征在于,所述训练特征对准单元(3)包括:
训练细节点相似度计算单元(31),用于根据训练特征提取单元(2)输出的训练指纹图像对的指纹细节点信息和细节点局部方向描述计算训练指纹图像对的所有指纹细节点之间的相似度;
训练对准初始点对选取单元(32),与训练细节点相似度计算单元(31)连接,用于从训练细节点相似度计算单元(31)输出的所有细节点相似度中,选取相似度最大的一对指纹细节点作为对准初始点对;
训练对准单元(33),与训练对准初始点对选取单元(32)连接,用于根据训练对准初始点对选取单元(32)选取的对准初始点对对指纹细节点信息和指纹方向场图像进行平移和旋转,以完成对准;
训练细节点平均相似度分数计算单元(34),与训练对准单元(33)连接,用于在训练对准单元(33)对准后的指纹细节点信息和细节点局部方向描述基础上,计算细节点平均相似度分数;以及
训练方向场平均距离分数计算单元(35),与训练对准单元(33)连接,用于在训练对准单元(33)对准后的指纹方向场图像基础上,计算方向场平均距离分数。
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