[发明专利]一种光修复点缺陷的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种显示面板的光修复点缺陷的方法。

背景技术

在工程制造生产过程中，由于工艺误差、异物污染等原因不可避免地会在液晶显示装置中出现点缺陷。点缺陷一般分为亮点缺陷和暗点缺陷，在实际生产中以亮点缺陷居多，并且人眼对亮点更加敏感。所以在比较高的出货级别允许有暗点的存在，但是不允许有亮点的存在。在点缺陷的工程修复中通用的方法是把亮点缺陷修复成暗点缺陷，但是暗点缺陷还是属于点缺陷。此外，如果在显示区域存在连续3个以及3个以上的亮点缺陷或者暗点缺陷，一般都会把这个显示器判定为不合格。所以，常用的点缺陷修复方法无法实现连续3个以及3个以上点缺陷的修复。

常用的亮点缺陷修复方法有物理修复法和电学修复法，其中物理修复法常用的是，利用BM遮住像素、碳化像素上CF使光无法透过亮点像素而实现修复；电学修复法常用的是，在晶体管区域，利用激光熔接的方法把晶体管的漏极和栅极电性连接。利用栅极扫描线电压与公共电压形成一个很大的压差，使存在亮点缺陷的子像素实现暗态显示。

以上电学修复法一般用于单个亮点缺陷的修复，并不适用于3个以上的亮点缺陷的修复，且利用“灌信号”的方式实现像素的暗态显示，并不是光学意义上真正的“暗态”，往往修复好的亮点缺陷没有正常暗态“暗”。

专利KR20080065748中利用激光照射不良像素，使其上的滤光片物性变化降低光透射性的方法修复亮点，修复中可能出现的气泡和偏光板损伤等必须依赖于激光波长和时间的精确控制，所以该方法复杂且存在很大风险。

发明内容

本发明揭示一种简易方便快速点缺陷修复方法，实现连续3个以及3个以上点缺陷的修复。

本发明提供一种光修复点缺陷的方法，用于修复显示面板的点缺陷，包括如下步骤：

第一步：给显示面板加电压；

第二步：检查缺陷像素；

第三步：光配向改变缺陷像素所在位置的配向膜的配向方向。

其中，所述显示面板包括相对设置的CF基板和TFT基板、位于CF基板与TFT基板之间的液晶、位于CF基板与TFT基板相对侧的表面上的第一配向膜、位于TFT基板与CF基板相对侧的表面上的第二配向膜，所述第一配向膜的配向方向与第二配向膜的配向方向垂直。

其中，所述第二步的具体检查方法为：CF基板和/或TFT基板上具有呈亮态显示的像素。

其中，所述第三步的具体方法为：用一遮挡物置于CF基板上，该遮挡物具有让光线通过的像素区域，用光线照射CF基板的亮点像素，使CF基板的上第一配向膜的配向方向沿光照方向分布，并改变第一配向膜的配向方向。

其中，位于亮点像素区域的第一配向膜的配向方向与第二配向膜的配向方向一致。

其中，所述第三步的具体方法为：用一遮挡物置于TFT基板上，该遮挡物具有让光线通过的像素区域，用光线照射TFT基板的亮点像素，使TFT基板的上第二配向膜的配向方向沿光照方向分布，并改变第二配向膜的配向方向。

其中，位于亮点像素区域的第二配向膜的配向方向与第一配向膜的配向方向一致。

其中，所述亮点像素所在区域的配向膜在配向前的配向方向与配向后的配向方向垂直。

其中，所述照射光线为UV或Laser。

其中，在所述CF基板和/或TFT基板上贴有防紫外的保护膜。

本案利用光配改变LCD其中一片基板上配向膜的配向方向，使原本配向方向相互垂直的配向膜配向方向一致，当光透过偏光轴分布垂直的基板两侧偏光板和配向方向一致的配向膜时，像素呈现暗态，从而修复亮点缺陷。

当存在多个亮点缺陷时，只需在遮挡物上设置与亮点像素区域相应的位置设置透过区域，从而可实现同时对多个亮点缺陷的修复，实现连续3个以及3个以上点缺陷的修复，且简易方便快速。

附图说明

图1是TN型TFT-LCD的光配向的示意图；

图2是TN型TFT-LCD的亮点像素的配向方向示意图；

图3是TN型TFT-LCD的光配前的剖视图；

图4是修复亮点像素的示意图；

图5是修复完成的示意图；

图6是修复完成的TFT-LCD的结构示意图；

图7是修复完成的亮点像素的配向方向的示意图；

图8是修复完成的TFT-LCD的光配向的剖视图。

具体实施方式