[发明专利]用于卫星总漏率测试检漏仪的取样装置有效

专利信息
申请号: 201210254607.3 申请日: 2012-07-23
公开(公告)号: CN102818679A 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 师立侠;冯琪;韩琰;窦仁超;刘兴悦;杨定魁;刘胜 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01M3/02 分类号: G01M3/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 卫星 总漏率 测试 检漏 取样 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种用于卫星总漏率测试检漏仪的取样装置,特别涉及一种能完成检漏仪的电动取样过程,并与标准氦质谱检漏仪共同完成总漏率测试工作的取样装置,最终实现总漏率测试过程的自动化工作。

背景技术

随着航天技术的不断发展,对自动化的需求越来越高,以前的手动测试工作需要改善,卫星总漏率测试也需要实现自动化,总漏率测试的关键装置取样系统制约着测试的自动化,迫切需要开发出一种便于实现自动化的取样装置。

现有检漏仪的取样装置结构示意图如图1所示。

其中,接检漏口的部分1与氦质谱检漏仪的检漏口连接,顶针2的锥面部分有一道人为地划痕,在卫星总漏率测试时,通过顶针2后部的螺纹可以调节进入检漏仪检漏口的流量。测试过程需要有两个标气口3,一进一出,提供标准气体的;有两个样气口4,一进一出,提供需要测试的气体,通过对比来测试之间的差值。测试过程中需要间隔对标气和样气进行取样,图1所示位置为标气的取样过程,如果需要对样气进行取样,则手动将活动套5沿着固定套6推至样气口与取样口7对齐即可,重复以上过程3次,完成卫星的总漏率测试取样过程。

这种装置能实现卫星总漏率测试过程中的取样工作,但是需要靠手动操作,特别繁琐,很难实现自动化,在其它环节都实现自动化后,取样装置成为卫星总漏率测试自动化过程中的瓶颈,迫切需要研制新的取样装置来实现总漏率测试过程的全自动化。另外,进入检漏仪的气体的流量是通过图1中顶针2后面锥面部分人为划痕的挤压来实现,此限流装置流量不稳定,不容易做成系列标准产品。因此,研制一种能够实现自动化的取样装置非常必要。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于卫星总漏率测试检漏仪的取样装置,其通过电磁阀来实现总漏率测试过程中的取样过程,从而便于实现卫星总漏率测试过程的自动化。

为了实现上述目的,本发明采用了如下的技术方案:

用于卫星总漏率测试检漏仪的取样装置,包括阀体、固定尺寸小孔及标气电磁阀和样气电磁阀,阀体中间设置有接检漏口的部分,接检漏口的部分由上部的主通道以及下部的两个取样口通道构成,主通道上方与标准氦质谱检漏仪的检漏口连接并在其通道内设置固定尺寸小孔,两个取样口通道分别对应连接到标气电磁阀和样气电磁阀上,阀体两侧分别设置有一进一出的两个标气口和两个样气口,它们分别会集到一通道并连通到相应的标气电磁阀和样气电磁阀上,标气电磁阀的阀芯向上移动,切断标气口与取样口的通路,反之开通标气口与取样口的通路,完成标气的取样过程;样气电磁阀的阀芯向上移动,切断样气口与取样口的通路,反之开通样气口与取样口的通路,完成样气的取样过程。

其中,两个标气口设置用来提供标准气体的进出。两个样气口设置用来提供待测试气体的进出。

其中,固定尺寸小孔的直径为10μm~20μm。

其中,两个电磁阀均为12V的低压直流电磁阀,阀门的漏率指标小于1×10-7Pa.m3/s。

本发明用于卫星总漏率测试检漏仪的取样装置,能够实现总漏率测试过程的自动取样,与现有的技术相比,取样过程由手动改为自动,便于能实现测试过程的自动化。采用固定直径的小孔来限制流量,与原有限流装置相比,尺寸更加容易控制,可以做成标准产品系列,供实际操作过程中选用,减少了原有限流装置产生流量的不确定度。

附图说明

图1是现有检漏仪的取样装置结构示意图。

其中,1、接检漏口的部分;2、顶针;3、标气口;4、样气口;5、活动套;6、固定套;7、取样口。

图2是本发明用于卫星总漏率测试检漏仪的取样装置结构示意图。

其中,1、接检漏口的部分;11、阀体;12、固定尺寸小孔;3、标气口;4、样气口;15、标气电磁阀;16、样气电磁阀;17、取样口的通路。

具体实施方式

以下介绍的是作为本发明所述内容的具体实施方式,下面通过具体实施方式对本发明的所述内容作进一步的阐明。当然,描述下列具体实施方式只为示例本发明的不同方面的内容,而不应理解为限制本发明范围。

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