[发明专利]一种超高密度磁记录用FePt/X纳米复合薄膜及其制备方法在审
申请号: | 201210251543.1 | 申请日: | 2012-07-19 |
公开(公告)号: | CN102800333A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 陆伟;何晨冲;陈哲;严彪 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
主分类号: | G11B5/84 | 分类号: | G11B5/84;G11B5/851 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 许亦琳;余明伟 |
地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 超高 密度 记录 fept 纳米 复合 薄膜 及其 制备 方法 | ||
1.一种FePt/X纳米颗粒复合薄膜,由下至上依次设有基板、(200)取向的MgO诱导层,以及FePt/X复合膜;所述FePt/X复合膜按照先FePt薄膜后X薄膜的顺序,由FePt薄膜和X薄膜交替设置而成,其化学组成为[FePt/X]n,其中X选自Ag、MgO、C、SiO2或Al2O3,n为FePt/Ag复合膜的周期数,并且2≤n≤10。
2.如权利要求1所述的FePt/X纳米颗粒复合薄膜,其特征在于,所述基板选自金属基板、陶瓷基板或玻璃基板。
3.如权利要求2所述的FePt/X纳米颗粒复合薄膜,其特征在于,所述基板选自MgO基板、Si基板或者玻璃基板。
4.如权利要求1所述的FePt/X纳米颗粒复合薄膜,其特征在于,所述MgO诱导层厚度为2~10nm;所述FePt薄膜厚度为0.5~5nm;所述X薄膜厚度为0.5~5nm。
5.权利要求1-4任一权利要求所述FePt/X纳米颗粒复合薄膜的制备方法,具体步骤如下:
1)诱导层的制备:在基板上通过沉积法首先沉积一层取向(200)的MgO薄膜,制备得到MgO诱导层;
2)FePt/X复合膜的制备:在MgO诱导层上按照先FePt薄膜后X薄膜的顺序,依次交替沉积多层FePt薄膜和X薄膜,获得薄膜沉积产物;
3)退火处理:基板自然冷却后,在真空中对薄膜沉积产物进行退火处理制备得到FePt/X纳米颗粒复合薄膜。
6.如权利要求5所述的制备方法,其特征在于,步骤1)和步骤2)中所述沉积法为物理气相沉积法。
7.如权利要求6所述的制备方法,其特征在于,步骤1)和步骤2)中所述沉积法为磁控溅射沉积法。
8.如权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述磁控溅射沉积法的条件为,溅射时基板温度100~400℃,溅射腔的背底真空度为0.7×10-5~5×10-5Pa,溅射时氩气气压为0.5~20Pa。
9.如权利要求5所述的制备方法,其特征在于,步骤3)退火处理的条件为:真空度1×10-5~10×10-5Pa,退火温度400~600℃,退火时间0.5~2小时。
10.权利要求1-4任一权利要求所述FePt/X纳米颗粒复合薄膜作为超高密度垂直磁记录介质的应用。
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