[发明专利]集成电路开/短路测试方法及测试机

权利要求书

1.一种集成电路开/短路测试方法，包括下列步骤：

将集成电路芯片良品插入测试插座内；

测试所述集成电路芯片良品的每个管脚与其余所有管脚间的对地二极管的数量，得到所述每个管脚与其余所有管脚间的对地二极管分布信息；

将与其余所有管脚间对地二极管数量最多的一管脚判定为第一地脚；

测试所述集成电路芯片良品的每个管脚与其余所有管脚间的对电源二极管的数量，得到所述每个管脚与其余所有管脚间的对电源二极管分布信息；

将与其余所有管脚间对电源二极管数量最多的一管脚判定为第一电源脚；

根据所述第一地脚与其余所有管脚间的对地二极管分布信息和第一电源脚与其余所有管脚间的对电源二极管分布信息，得到管脚分布表；

将待测集成电路芯片插入测试插座内；

读取所述管脚分布表；

根据所述管脚分布表配置所述待测集成电路芯片的第一地脚并进行扫描测试，若测试结果与所述对地二极管分布信息不一致，则判定所述待测集成电路芯片失效；

根据所述管脚分布表配置所述待测集成电路芯片的第一电源脚并进行扫描测试，若测试结果与所述对电源二极管分布信息不一致，则判定所述待测集成电路芯片失效。

2.根据权利要求1所述的集成电路开/短路测试方法，其特征在于，测试一个管脚与其余所有管脚间的对地二极管的数量，包括将所述一个管脚接地，依次测试其余所有管脚与所述一个管脚之间是否接有所述对地二极管；测试任意一个管脚与其余所有管脚间的电源二极管的数量，包括将所述一个管脚接地，依次测试其余所有管脚与所述一个管脚之间是否接有所述电源二极管。

3.根据权利要求1或2所述的集成电路开/短路测试方法，其特征在于，还包括将与其余所有管脚间对地二极管数量第二多且对地二极管数量≥3的一管脚判定为第二地脚的步骤；

若判定所述集成电路芯片良品有第二地脚，则所述管脚分布表还包括第二地脚与其余所有管脚间的对地二极管分布信息；所述读取所述管脚分布表的步骤后还包括根据所述管脚分布表配置所述待测集成电路芯片的第二地脚并进行扫描测试，若测试结果与所述对地二极管分布信息不一致，则判定所述待测集成电路芯片失效的步骤。

4.根据权利要求1或2所述的集成电路开/短路测试方法，其特征在于，还包括将与其余所有管脚间对电源二极管数量第二多且对电源二极管数量≥3的一管脚判定为第二电源脚的步骤；

若判定所述集成电路芯片良品有第二电源脚，则所述管脚分布表还包括第二电源脚与其余所有管脚间的对电源二极管分布信息；所述读取所述管脚分布表的步骤后还包括根据所述管脚分布表配置所述待测集成电路芯片的第二电源脚并进行扫描测试，若测试结果与所述对电源二极管分布信息不一致，则判定所述待测集成电路芯片失效的步骤。

5.根据权利要求1所述的集成电路开/短路测试方法，其特征在于，所述将待测集成电路芯片插入测试插座内的步骤后，还包括测试所述待测集成电路芯片相邻管脚间是否短路的步骤。