[发明专利]阻抗测试装置无效
申请号: | 201210233409.9 | 申请日: | 2012-07-06 |
公开(公告)号: | CN103529297A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 白云;李计朝;童松林 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阻抗 测试 装置 | ||
1.一种阻抗测试装置,用于测试一电路组件的等效阻抗,其特征在于,所述阻抗测试装置包括:
恒压源,用于提供一恒定的输出电压;
负载提供电路,用于提供一负载电阻,所述负载电阻与所述电路组件串联于所述恒压源与地之间;
电压检测电路,用于检测所述负载电阻两端的电压;
主控制器,电性连接至所述电压检测电路及负载提供电路,所述主控制器用于接收电压检测电路输出的所述负载电阻两端的电压值,并根据所述负载电阻两端的电压值、所述负载电阻的阻值以及所述输出电压的值计算所述电路组件的等效阻抗值。
2.如权利要求1所述的阻抗测试装置,其特征在于:所述负载提供电路还用于在主控制器的控制下,根据所述电路组件的等效阻抗值响应改变所述负载电阻的阻值,以使所述负载电阻的阻值与所述等效阻抗的阻值相当。
3.如权利要求2所述的阻抗测试装置,其特征在于:所述负载提供电路包括多个呈并联连接关系的负载选通单元,每一个所述负载选通单元包括一负载电阻,多个所述负载选通单元的负载电阻具有不同的阻值,所述主控制器选择性地选通其中一路负载选通单元,以将被选通的负载选通单元的负载电阻串联至所述电路组件。
4.如权利要求3所述的阻抗测试装置,其特征在于:所述负载提供电路还包括供电源每一所述负载选通单元还包括继电器以及三极管,所述继电器包括两个控制端以及两个连接端,两个控制端之间连接有电感线圈,其中一个所述控制端电性连接至所述供电电源,另一个控制端电性连接至所述三极管的集电极,其中一个连接端电性连接至所述电路组件,另一个连接端通过所述负载电阻电性连接至所述恒压源的输出端;所述三极管的基极电性连接至所述主控制器,发射极接地。
5.如权利要求1所述的阻抗测试装置,其特征在于:所述恒压源包括输入电源、电压转换芯片、输出电容以及输出电感,所述电压转换芯片用于将所述输入电源提供的电压转换为所述输入电压,并依次经由所述输出电容及输出电感输出。
6.如权利要求1所述的阻抗测试装置,其特征在于:所述阻抗测试装置还包括开关电路,所述开关电路电性连接至所述负载提供电路及恒压源之间,所述主控制器通过控制所述开关电路的开启与关闭来相应控制所述恒压源是否提供所述输入电压至与所述负载提供电路与电路组件。
7.如权利要求6所述的阻抗测试装置,其特征在于:所述开关电路包括第一金属氧化物半导体场效应晶体管以及第二金属氧化物半导体场效应晶体管,所述第一金属氧化物半导体场效应晶体管的栅极电性连接至所述主控制器,源极接地,漏极电性连接至所述第二金属氧化物半导体场效应晶体管;所述第二金属氧化物半导体场效应晶体管的漏极电性连接至所述恒压源的输出端,所述第二金属氧化物半导体场效应晶体管的源极电性连接至所述负载电阻。
8.如权利要求1所述的阻抗测试装置,其特征在于:所述电压检测电路包括第一运算放大器、第二运算放大器、差值放大器以及增益设置电阻,所述第一运算放大器以及第二运算放大器的同相输入端分别电性连接至所述负载电阻的两端,所述第一运算放大器以及第二运算放大器的反相输入端通过所述增益设置电阻连接于一起;所述第一运算放大器及第二运算放大器的输出端分别电性连接至差值放大器的反相输入端以及同相输入端,所述差值放大器的输出端电性连接至所述主控制器,所述主控制器根据从所述差值放大器接收到的电压以及整个电压检测电路的放大倍数计算出所述负载电阻两端的电压大小。
9.如权利要求1所述的阻抗测试装置,其特征在于:所述阻抗测试装置还包括报警控制电路,当所述主控制器获得的所述负载电阻两端的电压大小与所述输入电压相等时,主控制器控制所述报警控制电路报警。
10.如权利要求1所述的阻抗测试装置,其特征在于:所述阻抗测试装置还包括电流检测电路,所述电流检测电路用于检测所述负载电阻以及电路组件上流过的电流,并输出至所述主控制器,所述主控制器根据所述负载电阻两端的电流大小、所述恒流源输出的所述输入电压的大小以及所述负载电阻的阻值计算所述电路组件的等效阻抗值,所述主控制器还用于取根据负载电阻两端电压计算出的等效阻抗值以及根据负载电阻上的电流计算出的等效阻抗值的平均值,作为所述电路组件的等效阻抗的最终值。
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