[发明专利]一种红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路无效

专利信息
申请号: 201210232742.8 申请日: 2012-07-06
公开(公告)号: CN102707226A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 吕坚;周云;阙隆成;杜一颖;庹涛 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 谭新民
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 红外 平面 读出 电路 控制电路 检测
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种检测电路,尤其是涉及一种红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路。

背景技术

目前红外成像系统在军事、空间技术、医学以及国民经济相关领域正得到日益广泛的应用。红外焦平面阵列组件是红外成像技术中获取红外图像信号的核心光电器件。红外焦平面阵列组件由红外探测器和红外焦平面读出电路(ROIC:readout integrated circuits)组成。随着红外焦平面阵列组件规模的不断扩大,作为其重要组成部分的红外焦平面读出电路需要满足更高的工作性能。

ROIC电路是把红外焦平面的各种功能集成在单一的半导体芯片中的高集成度电路,其基本功能是进行红外探测器信号的转换、放大以及传输,即将数据从许多红外探测器端依次传输到输出端。常见的ROIC电路包括单元电路、列读出级和输出缓冲级、时序产生电路、行选择电路和列选择电路。行选择电路是ROIC电路的重要组成部分,它的性能好坏直接影响整个读出电路的性能。

在红外读出电路制作完成以后,红外敏感单元阵列制作以前,对红外读出电路进行检测是必要的,这样可以提高红外探测器的成品率,节约成本和时间。

红外敏感单元阵列制作以前,红外读出电路的列选通是否正常工作可以通过观察是否有坏列来判断。但是红外读出电路的行选通是否正常工作,在红外敏感单元阵列制作以前却很难检测。

发明内容

本发明的目的之一是提供一种能够检测红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路。

本发明实施例公开的技术方案包括:

提供了一种红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路,其特征在于,包括:编码电路,所述编码电路包括M个输入端和至少N个输出端,其中M为自然数,N为自然数,且                                                ,所述M个输入端分别连接到所述行控制电路的行选通控制器的M个行选控制信号端上;转换电路,所述转换电路包括至少N个输入端和至少一个输出端,所述N个输入端分别连接到所述编码电路的N个输出端。

进一步地,所述编码电路包括至少N个或门,其中或门j包括至少Sj个输入端和一个输出端,其中j为大于或等于零且小于N的整数,Sj为使的最大整数;所述或门j的第i个输入端连接到所述编码电路的所述M个输入端的第ai,j个输入端,其中i为大于或等于1且小于或等于Sj的整数,且;所述或门j的输出端连接到所述编码电路的输出端j。

进一步地,所述转换电路为并联-串联转换电路。

本发明实施例中,通过前述结构的编码电路,可以将输入的M个行选控制信号进行编码,将该M个的行选控制信号形成的“M中取1码”转换为N位的“二进制码”,并将该N位的二进制码转换成串行输出,这样,可以实现对行选控制信号的压缩,便于数据检测,节省了行控制电路检测的时间。

附图说明

图1是本发明一个实施例的红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路的示意图。

图2是本发明一个实施例的编码电路的结构示意图。

图3是本发明一个实施例转换电路的结构示意图。

具体实施方式

如图1所示,本发明一个实施例中,提供了一种红外焦平面读出电路的行控制电路的检测电路,该检测电路包括编码电路(编码器)和转换电路。

编码电路包括M个输入端和至少N个输出端,这里,M为自然数,N也为自然数,并且M和N之间满足。该M个输入端可以分别连接到红外焦平面读出电路的行控制电路的行选通控制器的M个行选控制信号端上,这样,红外焦平面读出电路的行控制电路的M个行选控制信号可以分别从编码电路的该M个输入端输入到编码电路,编码电路可以对接收到的M个行选控制信号进行编码,将该M个行选控制信号编码成N位的编码信号并从N个输出端输出,每个输出端输出一位编码信号。

如图1所示,编码电路包括第0个输入端IN<0>、第1个输入端IN<1>、第2个输入端IN<2>、……、第M-2个输入端IN<M-2>和第M-1个输入端IN<M-1>。编码电路还包括第0个输出端D<0>、第1个输出端D<1>、……、第N-2个输出端D<N-2>和第N-1个输出端D<N-1>。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210232742.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top