[发明专利]用于测量金属样品的膨胀计有效
| 申请号: | 201210231632.X | 申请日: | 2012-07-05 |
| 公开(公告)号: | CN102866173B | 公开(公告)日: | 2019-03-12 |
| 发明(设计)人: | H-L·贝尔 | 申请(专利权)人: | 贝尔-热分析有限公司 |
| 主分类号: | G01N25/16 | 分类号: | G01N25/16 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 沈英莹 |
| 地址: | 德国许*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 测量 金属 样品 膨胀 | ||
1.一种用于测量金属样品的膨胀计(1),包括:
a)样品保持器- ,样品(3)能够固定在该样品保持器上,
b)至少一个设置在样品(3)上的感应线圈(5),用于加热样品(3),
c)至少一个测量感应器(11),用于测量样品(3)的温度,以及
d)光学测量装置(6、9),用于测定样品(3)的长度变化,
其特征在于,
e)样品保持器包括两个支柱(4、14;4’、14’),样品(3)能够沿纵向方向夹紧在所述两个支柱之间,
f)光学测量装置(6、9)的测量平面基本上垂直于纵向方向定向,光学测量装置(6、9)测定在测量平面中的长度变化,并且测量感应器(11)测量样品(3)的在所述测量平面的区域中的温度;光学测量装置具有发送器(6)和接收器(9),并且用于测量温度的测量感应器(11)在朝向接收器(9)的一侧上接触样品(3);测量感应器(11)构成为热电偶,该热电偶的尖端固定在样品(3)上;由发送器(6)发射带状光路(7),该带状光路射在样品(3)的中心区域中,在背离样品(3)的一侧上带状光路(8)射到接收器(9)上,该射到接收器(9)上的带状光路(8)将样品(3)的阴影图像投影到接收器(9)中,所述测量平面通过由发送器(6)发射的带状光路(7)和射到接收器(9)上的带状光路(8)形成,
g)所述至少一个感应线圈(5)在中心区域中具有间隙(L),并且光学测量装置的测量平面设置在所述间隙(L)的区域中。
2.如权利要求1所述的膨胀计,其特征在于,通过样品保持器- 也能够测定沿样品(3)的纵向方向的长度变化。
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